承壓設(shè)備無損檢測第2部分-射線檢測.ppt
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1、承壓設(shè)備無損檢測第2部分:射線檢測,1 范圍 JB/T4730的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備金屬材料板和管的熔化焊對接接頭的X射線和射線檢測技術(shù)和質(zhì)量分級要求。 本部分適用于承壓設(shè)備的制造、安裝、在用檢測中對接焊接接頭的射線檢測。用于制作焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。 本部分規(guī)定的射線檢測技術(shù)分為三級:A級低靈敏度技術(shù);AB級中靈敏度技術(shù); B級高靈敏度技術(shù)。 承壓設(shè)備的有關(guān)支承件和結(jié)構(gòu)件的對接焊接接頭的射線檢測,也可參照使用。,1、 理解:(1)適用對象包括承壓設(shè)備的制造、安裝、在用(2)檢測的金屬材料包括; 碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼
2、、銅及銅合金、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金(3)A級AB級B級系指檢測技術(shù)分級,不是底片質(zhì)量分級。 2 、應(yīng)用:(1)對不同的金屬材料透照的厚度不同例如碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鎳及鎳合金透照厚度2400mm(5.1.1)鋁及鋁合金透照厚度280mm(5.2.1)鈦合金250mm(5.3.1)(2)不適用范圍;鍛件、管材、棒材。T型焊縫、角焊縫、堆焊層一般也不宜采用。(使用原則4.2.2) 3 、注意:如承壓設(shè)備的支承件或結(jié)構(gòu)件也采用該標準時應(yīng)在檢測報告中注明參照同時應(yīng)有委托方的確認。,2 規(guī)范性引用文件,下列文件中的條款,通過JB/T 4730的本部分的引用而成為本部分的條
3、款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分。然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。,GB 115331989 標準對數(shù)視力表 GB 163571996 工業(yè)射線探傷放射衛(wèi)生防護標準 GB 184652001 工業(yè)射線探傷放射衛(wèi)生防護要求 GB 188712002 電離輻射防護及輻射源安全基本標準 GB/T 19384.12003 無損檢測 工業(yè)射線照相膠片 第1部分: 工業(yè)射線膠片系統(tǒng)的分類 GB/T 19384.22003 無損檢測 工業(yè)射線照相膠片 第2部分: 用參考
4、值方法控制膠片處理,HB 76842000 射線照相用線型像質(zhì)計 JB 4730.12005 承壓設(shè)備無損檢測 第1部分:通用要求 JB/T 79021999 線型像質(zhì)計 JB/T 79031999 工業(yè)射線照相底片觀片燈 (共計10個),1、理解:(1)JB/T4730直接引用了文件中的某些條款(2)在工作中要執(zhí)行這些標準中的有關(guān)規(guī)定。例如3.3.1觀片燈的主要性能應(yīng)符合JB/T 79031999的有關(guān)規(guī)定。 2、應(yīng)用:(1)除JB/T4730外,以上10個標準也是我們編制檢測通用工藝和管理規(guī)定的主要依據(jù)。(2)如果這些文件有新的版本鼓勵采用,但雙方要達成一致意見。 3、注意:
5、(1)凡從事射線檢測的單位或部門應(yīng)有這10個標準的原件(2)當某些條款與JB/T4730不相符時,以JB/T4730規(guī)定的內(nèi)容為準。(GB標準除外)例如附錄F專用像質(zhì)計的標識。,一般要求 射線檢測的一般要求除應(yīng)符合JB/T4730.1的有關(guān)規(guī)定外,還應(yīng)符合下列規(guī)定。,3.1 射線檢測人員,3.1.1 從事射線檢測人員上崗前應(yīng)進行輻射安全知識的培訓(xùn),并取得放射工作人員證。 3.1.2 射線檢測人員未經(jīng)矯正或經(jīng)矯正的近(距)視力和遠(距)視力應(yīng)不低于5.0(小數(shù)記錄值為1.0), 測試方法應(yīng)符合GB 11533的規(guī)定。從事評片的人員應(yīng)每年檢查一次視力。,1、理解:取放射工作人員證的對象 2、應(yīng)用:
6、(1)對已取得國家質(zhì)檢總局或要取得國家質(zhì)檢總局所頒發(fā)的無損檢測資質(zhì)單位的射線檢測人員均應(yīng)有放射工作人員證(2)對其他單位(制造、安裝和檢驗)現(xiàn)場操作人員應(yīng)有放射工作人員證 3、注意:從事評片人員每年的視力檢查情況應(yīng)存檔。,3.2 射線膠片,3.2.1 膠片系統(tǒng)按照GB/T 19384.1分為四類,即T1、T2、T3和T4類。T1為最高類別,T4為最低類別。膠片系統(tǒng)的特性指標見附錄A(資料性附錄)。膠片制造商應(yīng)對所生產(chǎn)的膠片進行系統(tǒng)性能測試并提供類別和參數(shù)。膠片處理方法、設(shè)備和化學(xué)藥劑可按照GB/T 19384.2的規(guī)定,用膠片制造商提供的預(yù)先曝光膠片測試片進行測試和控制。 3.2.2 A級和A
7、B級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用T3類或更高類別的膠片,B級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用T2類或更高類別的膠片。膠片的本底灰霧度應(yīng)不大于0.3。 3.2.3 采用射線對裂紋敏感性大的材料進行射線檢測時,應(yīng)采用T2類或更高類別的膠片。,1、理解:(1)按膠片系統(tǒng)進行分類,不是按膠片的感光速度分類。膠片系統(tǒng)包括了膠片、增感屏和沖洗條件。(2)檢測的技術(shù)級別與膠片的類別有關(guān)。 2、應(yīng)用:選擇的原則(1)A級和AB級檢測技術(shù)不得低于T3類、B級檢測技術(shù)不得低于T2類(2)采用射線允許采用T3類膠片,但靈敏度應(yīng)滿足要求。 3、注意:(1)當對公稱厚度或透照厚度較薄的工件進行射線照相時應(yīng)采用高類別的膠片。 (2)對可焊性差的
8、材料或Rm540MPa高強鋼, 射線照相時應(yīng)選擇T2類或更高類別的膠片。,3.3 觀片燈,3.3.1 觀片燈的主要性能應(yīng)符合JB/T 7903的 有關(guān)規(guī)定。 3.3.2 觀片燈的最大亮度應(yīng)能滿足評片的要求。,1、理解:(1)觀片燈的主要性能指標除了亮度以外還包括:亮度的均勻性、外殼溫度、噪聲、絕緣程度等(2)觀片燈亮度和照度的關(guān)系,即140000lx45000cd/m2 2、應(yīng)用:當?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度2.5時,觀片燈的亮度不應(yīng)低于9400 cd/m2、當?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度2.5D4時觀片燈的亮度不應(yīng)低于100000 cd/m2 3、注意:生產(chǎn)觀片燈的廠家所提供的亮度指標應(yīng)用cd/m2表示
9、。,3.4 黑度計(光學(xué)密度計),3.4.1 黑度計可測的最大黑度應(yīng)不小于4.5,測量值的誤差應(yīng)不超過0.05。 3.4.2 黑度計至少每6個月校驗一次。校驗方法可參照附錄B(資料性附錄)的規(guī)定進行。,1、理解:在一定情況下底片的黑度允許大于4 (4.11.2) 2、應(yīng)用:黑度計屬于自校驗儀器,不是強制校驗設(shè)備,而標準黑度片是要強制檢驗的。黑度計的校驗應(yīng)有記錄并有校驗者和審核者簽字,保存到下一校驗周期。 3、注意:校準黑度計用的標準黑度片必須在有效期內(nèi),并通過計量部門的鑒定(2年)新購置的標準黑度片只要在有效期內(nèi)也允許。,3.5 增感屏,射線檢測一般應(yīng)使用金屬增
10、感屏或不用增感屏。增感屏的選用應(yīng)符合表1的規(guī)定,1、理解:(1)X射線照相,能量在500KV以下增感屏的材料應(yīng)是鉛,鉛屏的厚度不涉及技術(shù)級別只與射線能量有關(guān)(2)如采用Se-75或Ir-192,增感屏的厚度與技術(shù)級別有關(guān)。(3)如采用Co60或高能X射線(4MeV以下)選擇增感屏所用的材料和厚度均與技術(shù)級別有關(guān)。 2、應(yīng)用:(1)前屏和后屏的厚度可以相同也可以不同(2)如采用Se-75和Ir-192射線照相,AB級或B級檢測技術(shù),前屏和后屏的厚度均不能小于0.1mm。 3、注意: AB級或B級檢測技術(shù)使用前屏0.03mm真空包裝膠片時,另有規(guī)定。(僅限于射線),3.6 像質(zhì)計,3.6.1 底片
11、影像質(zhì)量采用線型像質(zhì)計測定。線型像質(zhì)計的型號和規(guī)格應(yīng)符合JB/T 7902的規(guī)定,JB/T 7902中未包含的絲徑、線號等內(nèi)容,應(yīng)符合HB 7684的有關(guān)規(guī)定。 3.6.2 像質(zhì)計的材料、材料代號和不同材料的像質(zhì)計適用的工件材料范圍應(yīng)符合表2的規(guī)定。,1、理解:(1)取消了象質(zhì)指數(shù)“Z”的概念,用線徑或線號表示底片的靈敏度。(2)原JB4730標準選用的是R10等比系列像質(zhì)計最細線的編后為16號,線徑為0.100mm,這一線徑已不能滿足JB/T4730厚度的下線(2mm)AB級和B級的要求,因此JB/T4730標準引出HB 76842000增加了小于0.100mm的線,即17號,0.080mm
12、、18號,0.063mm,19號,0.050mm.組成了4組像質(zhì)計:17、612、1016、1319。 2、應(yīng)用:(1)應(yīng)根據(jù)檢測技術(shù)級別、透照方式和像質(zhì)計擺放的位置及公稱厚度(T)透照厚度(W)確定像質(zhì)計靈敏度(2)以低原子序數(shù)材料制作的像質(zhì)計可以用于高原子序數(shù)材料制成的工件照相。即鐵(Fe)像質(zhì)計可以用于鎳(Ni)、銅(Cu)材料的照相,但不能用于鈦(Ti)、鋁(AI)材料的照相。,3.7 表面要求和射線檢測時機,3.7.1 在射線檢測之前,對接焊接接頭的表面應(yīng)經(jīng)外觀檢測并合格。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像,否則應(yīng)對表面作適當修整。 3.7.2 除非另有規(guī)定,射線檢
13、測應(yīng)在焊后進行。有延遲裂紋傾向的材料,至少應(yīng)在焊接完成24h后進行射線檢測。,1、理解:(1)焊縫的外觀檢查一般由焊工檢查員進行。(2)除非另有規(guī)定系指設(shè)計圖紙的規(guī)定、制造方的規(guī)定或焊縫返修后焊接工藝的規(guī)定。(3)有延遲裂紋的材料一般指低合金高強鋼。 2、應(yīng)用:(1)射線檢測工藝卡中應(yīng)明確檢測時機(2)當?shù)灼洗嬖诓挥绊懺u定的偽缺陷時應(yīng)在底片評定原始記錄中注明。 3、注意:所謂適當修整是指打磨或較淺補焊。,3.8 射線檢測技術(shù)等級選擇,3.8.1 射線檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)標準及設(shè)計圖樣規(guī)定。承壓設(shè)備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時的射線檢測,一般應(yīng)采用AB級射線檢測技術(shù)
14、進行檢測。對重要設(shè)備、結(jié)構(gòu)、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對接焊接接頭,可采用B級技術(shù)進行檢測。 3.8.2 由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境條件、射線設(shè)備等方面限制,檢測的某些條件不能滿足AB級(或B級)射線檢測技術(shù)的要求時, 經(jīng)檢測方技術(shù)負責人批準,在采取有效補償措施(例如選用更高類別的膠片)的前提下,若底片的像質(zhì)計靈敏度達到了AB級(或B級)射線檢測技術(shù)的規(guī)定,則可認為按AB級(或B級)射線檢測技術(shù)進行了檢測。 3.8.3 承壓設(shè)備在用檢測中,由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制,檢測的某些條件不能滿足AB級射線檢測技術(shù)的要求時, 經(jīng)檢測方技術(shù)負責人批準,在采取有效補償措施(例如選用更高類別的膠片)后可采用A
15、級技術(shù)進行射線檢測,但應(yīng)同時采用其他無損檢測方法進行補充檢測。,1、理解:(1)承壓類設(shè)備的制造、安裝、在用的檢測技術(shù)級別一般不應(yīng)低于AB級(2)承壓設(shè)備在用檢測特殊情況下可以采用A級檢測技術(shù)(3)檢測方技術(shù)負責人系指無損檢測單位的技術(shù)負責人,如是制造、安裝單位或檢驗單位,檢測方技術(shù)負責人是指該單位的總工程師或分管技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)(4)有效措施一般包括:高類別膠片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散亂射線等措施。 2、應(yīng)用:(1)技術(shù)負責人要確認是否確實存在“結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面的限制” (2)技術(shù)負責人一般應(yīng)在專用工藝或工藝卡批準欄中簽字。 3、注意:底片靈敏度必須達到相應(yīng)技術(shù)
16、級別的規(guī)定。對在用設(shè)備如采用A級檢測技術(shù)應(yīng)補充其他檢測方法進行檢測。返修焊縫應(yīng)采用AB級或達到AB級靈敏度,3.9 輻射防護,3.9.1 放射衛(wèi)生防護應(yīng)符合GB 18871、GB 16357和GB 18465的有關(guān)規(guī)定。 3.9.2 現(xiàn)場進行射線檢測時,應(yīng)按GB16357的規(guī)定劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設(shè)置警告標志。檢測工作人員應(yīng)佩帶個人劑量計,并攜帶劑量報警儀。 3.9.3 現(xiàn)場進行射線檢測時,應(yīng)按GB18465的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設(shè)置警告標志,檢測作業(yè)時,應(yīng)圍繞控制區(qū)邊界測定輻射水平。檢測工作人員應(yīng)佩帶個人劑量計,并攜帶劑量報警儀。,1、理解:(1)現(xiàn)場進行射線檢測或進行射線檢測時對輻射防
17、護提出了不同的要求。(2)在兩個標準都提出了輻射照射量的新名詞比釋動能和空氣比釋動能率,比釋動能是指不帶電粒子與物質(zhì)相互作用,在單位質(zhì)量的物質(zhì)中釋放出來的所有帶電粒子的初始動能的總和。 2、應(yīng)用:(1)空氣比釋動能率用儀器可以測出(2)控制區(qū)、管理區(qū)、監(jiān)督區(qū)范圍的確定均根據(jù)空氣比釋動能率量值進行劃分的。 3、注意:盡管兩個標準的某些條款內(nèi)容相同或相近,但在使用中不能相互代替。,4 具體要求,4.1 透照布置 4.1.1 透照方式 應(yīng)根據(jù)工件特點和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式,在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式參見附錄C(資料性
18、附錄)。 4.1.2 透照方向 透照時射線束中心一般應(yīng)垂直指向透照區(qū)中心,需要時也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。 4.1.3 一次透照長度 一次透照長度應(yīng)以透照厚度比K進行控制。不同級別射線檢測技術(shù)和不同類型對接焊接接頭的透照厚度比應(yīng)符合表3的規(guī)定。整條環(huán)向?qū)雍附咏宇^所需的透照次數(shù)可參照附錄D(資料性附錄)的曲線圖確定。,1、理解:(1)單壁透照最有利于發(fā)現(xiàn)缺陷,但并不是最便捷的透照方法。(2)對在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式要有正確的理解,不能實施時主要針對工況條件和檢驗檢測單位的資源條件而言,不是指最佳的透照方式。(3)一次透照長度與檢測技術(shù)級別有關(guān)。 2、應(yīng)用:透照方式
19、不能任意選取,在可以實施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式。(在用設(shè)備) 3、注意:其他方式透照環(huán)向?qū)咏宇^時,有不能實施的部位即陰影區(qū)。,4.1.4 小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^的透照布置,小徑管采用雙壁雙影透照布置,當同時滿足下列兩條件時應(yīng)采用傾斜透照方式橢圓成像: T(壁厚)8mm; g(焊縫寬度)Do /4 橢圓成像時,應(yīng)控制影像的開口寬度(上下焊縫投影最大間距)在1倍焊縫寬度左右。 不滿足上述條件或橢圓成像有困難時可采用垂直透照方式重疊成像。,4.1.5 小徑管環(huán)向?qū)咏宇^的透照次數(shù) 小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^100%檢測的透照次數(shù):采用傾斜透照橢圓成像時,當T/ Do0.12時,相隔90透照2次。當
20、T/ Do0.12時,相隔120或60透照3次。垂直透照重疊成像時,一般應(yīng)相隔120或60透照3次。 由于結(jié)構(gòu)原因不能進行多次透照時,可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。鑒于透照一次不能實現(xiàn)焊縫全長的100%檢測,此時應(yīng)采取有效措施盡量擴大缺陷可檢出范圍,并保證底片評定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求。,1、理解:(1)雙壁雙影橢圓成像的實施原則,即T(壁厚)8mm、 g(焊縫寬度)Do /4(605mm)(2)橢圓成像有困難一般是指焦距不滿足要求。(3)小徑管的透照次數(shù)與管外徑和壁厚有關(guān),與檢測技術(shù)級別無關(guān)(4)規(guī)定小徑管的透照次數(shù)的主要目的是控制透照厚度比(5)結(jié)構(gòu):一般系指排管或盤管 2、應(yīng)
21、用:(1)為控制影像的開口寬度應(yīng)采用偏心距法(2)擴大缺陷可檢出范圍的有效措施一般包括:雙膠片技術(shù)、適當提高管電壓、窗口加濾波板 3、注意:當Do 20mm、T 8mm 、g Do /4 重點檢查根部裂紋或未焊透時應(yīng)采用垂直透照,4.2 射線能量,4.2.1 X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時,應(yīng)保證適當?shù)钠毓饬俊D1規(guī)定了不同材料、不同透照厚度允許采用的最高射線管電壓。 對截面厚度變化大的承壓設(shè)備,在保證靈敏度要求的前提下,允許采用超過圖1規(guī)定的射線管電壓。但對鋼、銅及銅合金材料,管電壓增量不應(yīng)超過50kV;對鈦及鈦合金材料,管電壓增量不應(yīng)超過40kV;對鋁及鋁合金材料,管
22、電壓增量不應(yīng)超過30kV。,1、理解:(1)不同材料、不同透照厚度允許采用的最高射線管電壓與檢測技術(shù)級別無關(guān)(2)控制射線管電壓的目的是保證底片的對比度,避免影響小缺陷的檢出率。(3)截面厚度變化大(以AB級T3類膠片為基準,如較厚部位黑度為2.0,而較薄部位的黑度大于4 .0) 2、應(yīng)用:(1)在能穿透工件的前提下,應(yīng)盡量選擇較低的KV值(2)對截面厚度變化大的承壓設(shè)備,適當提高管電壓、利用中心指示器使射線束中心對準較厚部位、采用雙膠片技術(shù)、補償技術(shù) 3、注意:選擇能量時必須考慮穿透厚度。,42.2射線源和高能射線適用的透照厚度范圍應(yīng)符合表4的規(guī)定。 采用源在內(nèi)中心透照方式,在保證像質(zhì)計靈
23、敏度達到4.11.3要求的前提下,允許射線最小透照厚度取表4下限值的二分之一。 采用其他透照方式,在采取有效補償措施并保證像質(zhì)計靈敏度達到4.11.3要求的前提下,經(jīng)合同各方同意,A 級 ,AB級技術(shù)的Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm, Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。,1、理解:(1)鼓勵和提倡采用源在內(nèi)中心透照方式盡可能實現(xiàn)單壁透照,同時也有利于橫向裂紋的檢出(2)其他透照方式包括:雙壁雙影、雙壁單影、內(nèi)透法FR、FR(3)經(jīng)合同各方同意的主要目的是 對放寬最小透照厚度要慎重 (4)其他透照方式放寬最小透照厚度與技術(shù)級別有關(guān)(僅限于A級AB級) 2、應(yīng)用:(1)采用Ir
24、-192源中心透照時最小透照厚度可為10mm,且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm時,即使合同各方同意也不能實施。采用其他透照方式當透照厚度小20mm時,應(yīng)經(jīng)合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm時,即使合同各方同意也不能實施。,(2)采用Se-75源中心透照時最小透照厚度可為5mm,且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm時,即使合同各方同意也不能實施。采用其他透照方式當透照厚度小10mm時,應(yīng)經(jīng)合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm時,即使合同各方同意也不能實施。(3)有效補償措施包括:高類別的膠片、適當提高底片黑度、提高增感屏的厚度、散射線的屏蔽。 3、注意:(1)最小透
25、照厚度以公稱厚度計算。(2)合同各方同意:一般指在施工方案上或工藝文件上有甲方簽字認可,并存檔。,4.3 射線源至工件表面的最小距離,4.3.1 所選用的射線源至工件表面的距離f應(yīng)滿足下式的要求: A 級射線檢測技術(shù): f 7.5db 2/3 AB級射線檢測技術(shù): f 10db 2/3 B 級射線檢測技術(shù): f 15db 2/3 圖2是A級和B級射線檢測技術(shù)確定f的諾模圖,圖3是AB級射線檢測技術(shù)確定f的諾模圖。有效焦點尺寸d 按附錄E(規(guī)范性附錄)的規(guī)定計算。,4.3.2 采用源在內(nèi)中心透照方式周向曝光時,只要得到的底片質(zhì)量符合4.11.2和4.11.3的要求,
26、f值可以減小,但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的50%。 4.3.3 采用源在內(nèi)單壁透照方式時,只要得到的底片質(zhì)量符合4.11.2和4.11.3的要求,f值可以減小,但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的20%。,1、理解:(1)確定射線源至工件表面的最小距離與檢測技術(shù)級別有關(guān)。(2)鼓勵和提倡采用內(nèi)透法特別是中心內(nèi)透法。體現(xiàn)了采用單壁透照的原則。減少透照厚度,有利與檢驗缺陷;減少照射角,有利裂紋檢出。 2、應(yīng)用:(1)由諾模圖中可直接得出射線源至工件表面最小距離(2)工件表面至膠片的距離應(yīng)根據(jù)透照方式確定,同時應(yīng)考慮焊縫余高和墊板(雙壁單影、單壁單影)的厚度 3、注意:由諾模圖中給出的數(shù)據(jù)是射線源至工件表面的最小距
27、離。,4.4 曝光量,4.4.1 射線照相,當焦距為700mm時,曝光量的推薦值為:A級和AB級射線檢測技術(shù)不小于15mAmin;B級射線檢測技術(shù)不小于20mAmin。當焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。 4.4.2 采用射線源透照時, 總的曝光時間應(yīng)不少于輸送源往返所需時間的10倍。,1、理解:(1)曝光量的大小與焦距有關(guān) (2)曝光量的選擇與檢測技術(shù)級別有關(guān) (3)采用射線源透照時,在某一時段焦距是在不斷變化,為保證底片質(zhì)量,從而確定了總的曝光時間 2、應(yīng)用:以AB級為例:當焦距700mm時,曝光量應(yīng)大于或等于15mAmin、當焦距大于700mm時,曝光量應(yīng)大于15mAm
28、in、當焦距小于700mm時,曝光量可小于或等于15mAmin、焦距改變時按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。 3、注意:對小口徑薄壁管采用射線源透照時,強度不宜太大,4.5 曝光曲線,4.5.1 對每臺在用射線設(shè)備均應(yīng)做出經(jīng)常檢測材料的曝光曲線,依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。 4.5.2 制作曝光曲線所采用的膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及底片應(yīng)達到的靈敏度、黑度等參數(shù)均應(yīng)符合本部分的規(guī)定。 4.5.3 對使用中的曝光曲線,每年至少應(yīng)校驗一次。射線設(shè)備更換重要部件或經(jīng)較大修理后應(yīng)及時對曝光曲線進行校驗或重新制作。,1、理解:(1)曝光曲線是針對X射線機 (2)每臺X射線機必須有曝光曲線
29、且不能混用 (3)射線設(shè)備重要部件是指X射線管和高壓包 2、應(yīng)用:(1)曝光曲線橫坐標上的厚度應(yīng)是穿透厚度(2)當實際拍片的條件與制作曝光曲線的條件不一致時,必須對曝光曲線作相應(yīng)的修正。 3、注意:曝光曲線的校驗日期(至少每年一次),4.6 無用射線和散射線屏蔽,4.6.1 應(yīng)采用金屬增感屏、鉛板、濾波板、準直器等適當 措施,屏蔽散射線和無用射線,限制照射場范圍。 4.6.2 對初次制定的檢測工藝或當在使用中檢測工藝的 條件、環(huán)境發(fā)生改變時,應(yīng)進行背散射防護檢查。 檢查背散射防護的方法是:在暗盒背面貼附“B”鉛字標記,一般B鉛字的高度為13mm、厚度為1.6mm,按檢測工藝的規(guī)定
30、進行透照和暗室處理。若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的“B”字影像,則說明背散射防護不夠,應(yīng)增大背散射防護鉛板的厚度。若底片上不出現(xiàn) “B”字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“B”字影像,則說明背散射防護符合要求。,1、理解:(1)金屬增感屏、鉛板、濾波板、準直器等是屏蔽和控制散射線的主要器件 (2)屏蔽和控制散射線與檢測技術(shù)級別無關(guān) (3)背散射檢查的前提條件(初次制定的檢測工藝或當在使用中檢測工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改變) 2、應(yīng)用:對不是初次制定的檢測工藝或在使用中檢測工藝的條件、環(huán)境未發(fā)生變化時,不用每次都進行背散射檢查 3、注意:在薄工件或不用增感屏?xí)r,有時會出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的
31、“B”字影像,4.7 像質(zhì)計的使用,4.7.1 像質(zhì)計一般應(yīng)放置在工件源側(cè)表面焊接接頭的一端(在被檢區(qū)長度的1/4左右位置),金屬絲應(yīng)橫跨焊縫,細絲置于外側(cè)。當一張膠片上同時透照多條焊接接頭時,像質(zhì)計應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。,4.7.2 像質(zhì)計放置原則,a) 單壁透照規(guī)定像質(zhì)計放置在源側(cè)。雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計放置在膠片側(cè)。雙壁雙影透照像質(zhì)計可放置在源側(cè),也可放置在膠片側(cè)。 b) 單壁透照中,如果像質(zhì)計無法放置在源側(cè),允許放置在膠片側(cè)。 c) 單壁透照中像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時,應(yīng)進行對比試驗。對比試驗方法是在射源側(cè)和膠片側(cè)各放一個像質(zhì)計,用與工件相同的條件透照,測定出像質(zhì)計放置在源側(cè)和膠片
32、側(cè)的靈敏度差異,以此修正像質(zhì)指數(shù)規(guī)定,以保證實際透照的底片靈敏度符合要求。 d) 當像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時,應(yīng)在像質(zhì)計上適當位置放置鉛字“F”作為標記, F標記的影像應(yīng)與像質(zhì)計的標記同時出現(xiàn)在底片上,且應(yīng)在檢測報告中注明。,4.7.3 原則上每張底片上都應(yīng)有像質(zhì)計的影像。當一次曝光完成多張膠片照相時,使用的像質(zhì)計數(shù)量允許減少但應(yīng)符合以下要求: a) 環(huán)形對接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時,至少在圓周上等間隔地放置3個像質(zhì)計; b) 球罐對接焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時,至少在北極區(qū)、赤道區(qū)、南極區(qū)附近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置3個像質(zhì)計,在南、北極的極板拼縫上各放置1個像質(zhì)計; c)
33、一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時,至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個像質(zhì)計。,4.7.4 小徑管可選用通用線型像質(zhì)計或附錄F(規(guī)范性附錄)規(guī)定的專用(等徑金屬絲)像質(zhì)計,金屬絲應(yīng)橫跨焊縫放置。 4.7.5 如底片黑度均勻部位(一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū))能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時,則認為該絲是可識別的。專用像質(zhì)計至少應(yīng)能識別兩根金屬絲。,1、理解:(1)在像質(zhì)計擺放原則中對1/4處是一個相對概念(2)根據(jù)透照方式的不同規(guī)定了像質(zhì)計應(yīng)的擺放位置(3)規(guī)定了允許減少的三種情況(環(huán)形焊縫周向曝光:3;連續(xù)多張一次曝光:3;球:332)(4)小徑管即可以選用通用線型像
34、質(zhì)計也可以選用專用線型像質(zhì)計(4)像質(zhì)計的觀察一般在母材上而不是在焊縫上。(考慮深槽焊)(5)“ F”標記的影像應(yīng)與像質(zhì)計的標記同時出現(xiàn)在底片上(像質(zhì)計的標記是指像質(zhì)計上的標準號) 2、應(yīng)用:(1)只有在單壁透照,象質(zhì)計放在膠片測時才進行對比試驗,其他方式均不用做對比試驗。(2)像質(zhì)計可放置在源側(cè),也可放置在膠片側(cè)僅限于小徑管雙壁雙影時使用(3)“F”標記一般應(yīng)放置在像質(zhì)計標識的右上角。(4)當焊縫寬度較大時應(yīng)加長金屬絲的長度,或適當移動像質(zhì)計的位置。(5)當象質(zhì)計放在膠片測時,應(yīng)在檢驗報告像質(zhì)計靈敏度一欄中注明,注意:(1)雙壁雙影最大透照厚度上限;A級為54mm、AB為54mm、B級為56
35、mm(表6) (2)小徑管使用專用像質(zhì)計時要看到2根,4.8 標記,4.8.1 透照部位的標記由識別標記和定位標記組成。標記一般由適當尺寸的鉛(或其他適宜的重金屬)制數(shù)字、拼音字母和符號等構(gòu)成。 4.8.2 識別標記一般包括:產(chǎn)品編號、對接焊接接頭編號、部位編號和透照日期。返修后的透照還應(yīng)有返修標記,擴大檢測比例的透照應(yīng)有擴大檢測標記。 4.8.3 定位標記一般包括中心標記和搭接標記。中心標記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號的方向,一般用十字箭頭“ ”表示。搭接標記是連續(xù)檢測時的透照分段標記,可用符號“”或其他能顯示搭接情況的方法表示。,4.8.4 標記一般應(yīng)放置在距焊縫邊緣至少5mm以
36、外的部位,搭接標記放置的部位還應(yīng)符合附錄G(規(guī)范性附錄)的規(guī)定。所有標記的影像不應(yīng)重疊,且不應(yīng)干擾有效評定范圍內(nèi)的影像。,1、理解:(1)未對返修標記,擴大檢測比例的擴大檢測標記作出統(tǒng)一規(guī)定。(2)搭接標記可以用“”表示也可以用其他符號表示(如1、2、或A、B、C)(3)(3)根據(jù)射線源、工件、膠片的相互位置按附錄G規(guī)定放置搭接標記。 2、應(yīng)用:(1)應(yīng)在工藝文件中對返修標記、擴大檢測標記以及搭接標記的符號作出明確規(guī)定。(2)小徑管雙壁雙影或垂直透照不用搭接標記。 (3)除中心100透照或連續(xù)多張一次曝光外,否則每張底片上均應(yīng)有中心標記。(20mm以下小徑管除外) 3、注意:不是100透照的焊
37、接接頭也要放置搭接標記。(有效區(qū)段標記),4.9 膠片處理,4.9.1 可采用自動沖洗或手工沖洗方式處理,推薦采用自動沖洗方式處理。 4.9.2 膠片處理一般應(yīng)按膠片使用說明書的規(guī)定進行。,1、理解:(1)手工沖洗方式處理是指槽洗不是盤洗(2)推薦采用自動沖洗方式處理的目的是盡量防止采用增加或減少顯影時間來控制底片的黑度。 2、應(yīng)用:在工藝文件中要明確膠片處理的方式和處理的條件。 3、注意:采用自動洗片機時要經(jīng)常清洗防止產(chǎn)生劃傷。,4.10 評片要求,4.10.1 評片一般應(yīng)在專用的評片室內(nèi)進行。評片室應(yīng)整潔、安靜,溫度適宜,光線應(yīng)暗且柔和。 4.10.2 評片人員在評片前應(yīng)經(jīng)歷一定的暗適應(yīng)時
38、間。從陽光下進入評片的暗適應(yīng)時間一般為5 min10min;從一般的室內(nèi)進入評片的暗適應(yīng)時間應(yīng)不少于30s。 4.10.3 評片時,底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)符合下列規(guī)定: 當?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度 D2.5時,透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于30cd/m2; 當?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度 D2.5時,透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于10cd/m2。 4.10.4 底片評定范圍的寬度一般為焊縫本身及焊縫兩側(cè)5mm寬的區(qū)域。,1、理解:增加評片暗適應(yīng)過程規(guī)定的目的是光強的突然變化會使人的視覺靈敏度下降從而造成評片時的漏檢 2、應(yīng)用:(1)評片室不能全黑,一般要等于或略低于透過底片光的亮度。(2)觀片燈的亮度
39、必須可以調(diào)節(jié)(3)觀片燈應(yīng)有足夠的照明區(qū)一般是30080mm(4)要用照度計測定透過底片后,可見光的強度是否達到標準的要求。 3、注意:對低合金高強鋼要特別注意熱影響區(qū)的觀察。,4.11 底片質(zhì)量,4.11.1 底片上,定位和識別標記影像應(yīng)顯示完整、位置正確。 4.11.2 底片評定范圍內(nèi)的黑度D應(yīng)符合下列規(guī)定: A 級:1.5D4.0; AB級:2.0D4.0 ; B 級:2.3D4.0。 用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時,AB級最低黑度允許降至1.5;B級最低黑度可降至2.0。 采用多膠片方法時,單片觀察的黑度應(yīng)符合以上要求。雙片疊加觀察僅限于A級,疊加觀察時,單片的黑
40、度應(yīng)不低于1.3。 對評定范圍內(nèi)的黑度D4.0的底片,如有計量檢定報告證明底片評定范圍內(nèi)的亮度能夠滿足4.10.3的要求,允許進行評定。,1、理解:(1)底片評定范圍內(nèi)的黑度與技術(shù)級別有關(guān)(2)只有當用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時,黑度才可降低而且與技術(shù)級別有關(guān)( AB級最低黑度允許降至1.5;B級最低黑度可降至2.0)(3)允許黑度降低的前提條件;a.只能是工件不能是設(shè)備的焊接接頭4.2.1b.當較薄部位的黑度為4.0時,較厚部位的黑度尚未達到1.5時。(AB級T3類膠片為基準)(4)雙膠片技術(shù)一般是指兩張感光速度不同的膠片也可以是兩張感光速度相同的膠片 2、應(yīng)用:(1)評片
41、時每張底片均應(yīng)測定其黑度值(2)黑度一般測三點即兩搭接標記的焊縫上各測一點,焊縫中心靠近焊縫母材部位測一點。(3)小徑管無論是雙壁雙影或垂直透照黑度均可降至1.5(X射線、AB級) 3、注意:(1)AB級、B級不能采用雙片觀察,(2)小徑管只有在黑度大于1.5以上的區(qū)域是有效評定范圍(X射線、AB級) (3)當?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度大于4時需有計量檢定報告證明底片評定范圍內(nèi)的亮度能夠滿4.10.3的要求時,才允許進行評定。,4.11.3 底片的像質(zhì)計靈敏度,單壁透照、像質(zhì)計置于源側(cè)時應(yīng)符合表5的規(guī)定;雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于源側(cè)時應(yīng)符合表6的規(guī)定;雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于膠片側(cè)時應(yīng)符合
42、表7的規(guī)定。 4.11.4底片評定范圍內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷影像識別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。,1、理解:底片的像質(zhì)計靈敏度不僅與檢測技術(shù)級別有關(guān),而且還與透照方式、公稱厚度、透照厚度有關(guān)。 2、應(yīng)用:(1)除單壁透照像質(zhì)計放在膠片側(cè)外,其他形式的底片像質(zhì)計靈敏度均可從表中查出(2)底片評定范圍以外的偽缺陷不屬于底片質(zhì)量不合格的依據(jù)。 3、注意:(1)當對接接頭兩邊的公稱厚度不等時以較薄為準。(2)底片的像質(zhì)計靈敏度不能按穿透厚度計算。,5 承壓設(shè)備熔化焊對接焊接接頭射線檢測質(zhì)量分級,5.1 鋼、鎳、銅制承壓設(shè)備熔化焊對接焊接接頭射線檢測質(zhì)量分級 5.1.1 范圍 本條規(guī)定適用于厚度為2 m
43、m400mm,材質(zhì)為碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、鎳及鎳基合金制承壓設(shè)備,以及厚度為2 mm80mm銅及銅合金制承壓設(shè)備的熔化焊對接焊接接頭射線檢測的質(zhì)量分級。 管子和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線檢測質(zhì)量分級按照第6條的規(guī)定執(zhí)行,1、理解:(1)必須是對接接頭(2)適用范圍和厚度(碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、鎳及鎳基合金、銅和銅合金。厚度2 mm400mm、 2 mm80mm。 2、應(yīng)用:凡不在本標準規(guī)定的范圍之內(nèi),均不能按本標準進行質(zhì)量分級。 3、注意:厚度是指母材的公稱厚度。,5.1.2 缺陷類型 對接焊接接頭中的缺陷按性質(zhì)可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷五類。 5.1
44、.3 質(zhì)量分級依據(jù) 根據(jù)對接接頭中存在的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度,其質(zhì)量等級可劃分為、、、級。,5.1.4 質(zhì)量分級一般規(guī)定,5.1.4.1 級對接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透和條形缺陷。 5.1.4.2 級和級對接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合和未焊透。 5.1.4.3 對接焊接接頭中缺陷超過級者為級。 5.1.4.4 當各類缺陷評定的質(zhì)量級別不同時,以質(zhì)量最差的級別作為對接焊接接頭的質(zhì)量級別。,5.1.5 圓形缺陷的質(zhì)量分級,5.1.5.1 圓形缺陷用圓形缺陷評定區(qū)進行質(zhì)量分級評定,圓形缺陷評定區(qū)為一個與焊縫平行的矩形,其尺寸見表8。圓形缺陷評定區(qū)應(yīng)選在缺陷最嚴重的區(qū)域。 5
45、.1.5.2 在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)或與圓形缺陷評定區(qū)邊界線相割的缺陷均應(yīng)劃入評定區(qū)內(nèi)。將評定區(qū)內(nèi)的缺陷按表9的規(guī)定換算為點數(shù),按表10的規(guī)定評定對接焊接接頭的質(zhì)量級別。,1、理解:(1)特種設(shè)備對接接頭內(nèi)的缺陷分為5種即裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷。(2)以對接接頭中存在缺陷的性質(zhì)、數(shù)量和密集程度進行質(zhì)量分級與技術(shù)級別無關(guān)。 2、應(yīng)用:(1)圓形缺陷評定區(qū)的尺寸要根據(jù)公稱厚度確定。(2)在確定圓形缺陷嚴重部位的數(shù)量時,評定區(qū)應(yīng)與焊縫平行。(3)圓形缺陷的長徑大于T/2時應(yīng)注明其尺寸 3、注意:必須與圓形缺陷評定區(qū)邊界線相割的缺陷才能劃入評定區(qū)內(nèi),5.1.5.3 由于材質(zhì)或結(jié)構(gòu)等原因,
46、進行返修可能會產(chǎn)生不利后果的對接焊接接頭,各級別的圓形缺陷點數(shù)可放寬1點2點。 5.1.5.4 對致密性要求高的對接焊接接頭,制造方底片評定人員應(yīng)考慮將圓形缺陷的黑度作為評級的依據(jù)。通常將黑度大的圓形缺陷定義為深孔缺陷,當對接焊接接頭存在深孔缺陷時,其質(zhì)量級別應(yīng)評為級。,5.1.5.5 當缺陷的尺寸小于表11的規(guī)定時,分級評定時不計該缺陷的點數(shù)。質(zhì)量等級為級的對接焊接接頭和母材公稱厚度T 5mm的級對接焊接接頭,不計點數(shù)的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)不得多于10個,超過時對接焊接接頭質(zhì)量等級應(yīng)降低一級。,1、理解:(1)圓形缺陷放寬的原則(2)致密性要求高的對接焊接接頭是指一旦泄漏將會發(fā)生起火、爆炸
47、或嚴重污染環(huán)境的焊接接頭。(3)制造方底片評定人員:(包括檢驗檢測,設(shè)備制造或安裝單位的評片人員) 2、應(yīng)用:(1)圓形缺陷的放寬不能是普遍現(xiàn)象只能是個別現(xiàn)象,如果對圓形缺陷放寬應(yīng)在檢測報告的附件中說明圓形缺陷的實際點數(shù),以及放寬的理由和依據(jù)。(2)只有對薄板焊接接頭評定時當圓形缺陷的黑度明顯大于母材的黑度時才能定義為深孔(并在報告中注明) 3、注意:監(jiān)檢人員以及第三方抽檢一般不考慮將圓形缺陷的黑度作為評級的依據(jù)。,5.1.6 條形缺陷的質(zhì)量分級,條形缺陷按表12的規(guī)定進行分級評定。,1、理解:(1)條形評定區(qū)的寬度與母材的公稱厚度有關(guān)(T25mm.4mm、100mm T25mm.6mm 、T
48、100mm.8mm(2)對條形缺陷的累計長度規(guī)定了最小值(3)T為公稱厚度 2、應(yīng)用:(1)當測定條形缺陷的累計長度時,條形評定區(qū)應(yīng)與焊縫平行()應(yīng)用條形評定區(qū)的目的是確定當?shù)灼嫌卸嗵帡l形缺陷時,根據(jù)間距大小確定是否為一組或兩組(3)凡在同一直線的條狀缺陷應(yīng)根據(jù)間距的情況是否按單個條狀缺陷處理.(相鄰缺陷的間距大于較短缺陷時除外)圖1、2 3、注意:當母材公稱厚度不等時取薄板的厚度值。,5.1.7 綜合評級,5.1.7.1 在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在圓形缺陷和條形缺陷時,應(yīng)進行綜合評級。 5.1.7.2 綜合評級的級別如下確定:對圓形缺陷和條形缺陷分別評定級別,將兩者級別之和減一作為綜合評級
49、的質(zhì)量級別。,1、理解:只有在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)存在條狀缺陷時才進行綜合評級。 2、應(yīng)用:對缺陷進行綜合級,應(yīng)在檢測報告?zhèn)渥谥凶⒚?3、注意:綜合評級后只要大于級者均為級,5.2 鋁制承壓設(shè)備熔化焊對接焊接接頭射線檢測質(zhì)量分級,5.2.1 范圍 本條規(guī)定適用于厚度為2 mm80mm鋁及鋁合金承壓設(shè)備的熔化焊對接焊接接頭射線檢測的質(zhì)量分級。 5.2.2 缺陷類型(略) 5.2.3 質(zhì)量分級依據(jù)(略),5.3 鈦及鈦合金制承壓設(shè)備熔化焊對接焊接接頭射線檢測質(zhì)量分級,5.3.1 范圍 本條規(guī)定適用于厚度為2mm50mm,材質(zhì)為鈦及鈦合金的熔化焊對接焊接接頭射線檢測的質(zhì)量分級。 5.3.2 缺陷類型(
50、略) 5.3.3 質(zhì)量分級依據(jù)(略),6 承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線檢測質(zhì)量分級,6.1 鋼、鎳、銅承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線檢測質(zhì)量分級 6.1.1 范圍 本條適用于壁厚T 2mm碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、鎳及鎳基合金、銅及銅合金承壓設(shè)備管子及壓力管道的熔化焊環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線檢測的質(zhì)量分級。,1、理解:(1)必須是環(huán)向?qū)咏宇^(2)接頭的壁厚應(yīng)大于或等于2mm(3)對管子的外徑?jīng)]設(shè)上限 2、應(yīng)用:承壓設(shè)備管子及壓力管道系指無縱向焊縫的管道。對于采用鋼板卷管制作壓力管道縱向焊縫的評定應(yīng)按5.1條的規(guī)定進行 3、注意:螺旋管焊縫的質(zhì)量評級應(yīng)由
51、合同各方商定。,6.1.2 缺陷類型,對接焊接接頭中的缺陷按性質(zhì)可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、圓形缺陷、根部內(nèi)凹、根部咬邊等七類。,1、理解:把根部內(nèi)凹、根部咬邊外觀缺陷也納入評級范圍之列。 2、應(yīng)用:要正確判斷根部咬邊和外咬邊,外咬邊缺陷不能作為評級的依據(jù) 3、注意:根部內(nèi)凹和根部咬邊均按累計長度計算,對斷續(xù)根部內(nèi)凹和根部咬邊,以根部內(nèi)凹和根部咬邊本身的長度累計計算。(不包括間距長度,也沒有間距的概念),6.1.3 質(zhì)量分級依據(jù),根據(jù)對接焊接接頭中存在的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度,其質(zhì)量等級可劃分為、、、級。,6.1.4 質(zhì)量分級的一般規(guī)定 6.1.4.1 級對接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂
52、紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、根部內(nèi)凹、根部咬邊。 6.1.4.2 級和級對接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合,雙面焊以及加墊板單面焊中的未焊透。 6.1.4.3 對接焊接接頭中缺陷超過級者為級。 6.1.4.4 當各類缺陷評定的質(zhì)量級別不同時,以質(zhì)量最差的級別作為對接焊接接頭的質(zhì)量級別。,6.1.5 圓形缺陷的分級評定,按5.1.5的規(guī)定進行質(zhì)量分級評定。但對小徑管缺陷評定區(qū)取10mm10mm。,6.1.6 條形缺陷的分級評定,按5.1.6的規(guī)定進行質(zhì)量分級評定。,6.1.7 不加墊板單面焊的未焊透缺陷的分級評定,管外徑Do100mm時,不加墊板單面焊的未焊透缺陷按表21的規(guī)定進行質(zhì)量分級評
53、定。管外徑Do100mm的小徑管不加墊板單面焊的未焊透缺陷按表22的規(guī)定進行質(zhì)量分級評定。管外徑Do100mm的管子未焊透深度可采用附錄H(規(guī)范性附錄)規(guī)定的一般對比試塊(型)進行測定。管外徑Do100mm的小徑管的未焊透深度可采用附錄H(規(guī)范性附錄)規(guī)定的小徑管專用對比試塊(A或B型)進行測定,測定時,對比試塊應(yīng)置于管的源側(cè)表面、靠近被測未焊透缺陷附近部位。,1、理解:(1)不加墊板的單面焊允許未焊透(2)對小徑管和D0100mm管所允許未焊透最大深度的規(guī)定是一致的,而對長度的規(guī)定有較大的差異,即小徑管未規(guī)定單個未焊透允許的最大長度。對大口徑管的質(zhì)量要求高于小徑管 2、應(yīng)用:對管外徑Do10
54、0mm的管子未焊透深度應(yīng)采用一般試塊(溝槽試塊)進行測定,小徑管未焊透深度可采用附錄H專用對比試塊(A或B型)進行測定 3、注意:(1)未焊透與內(nèi)凹的區(qū)別(2)斷續(xù)未焊透,以未焊透本身的長度累計計算,6.1.8 根部內(nèi)凹和根部咬邊的分級評定,管外徑Do100mm時,不加墊板單面焊的根部內(nèi)凹和根部咬邊缺陷按表23的規(guī)定進行質(zhì)量分級評定。管外徑Do100mm的小徑管不加墊板單面焊的根部內(nèi)凹和根部咬邊缺陷按表24的規(guī)定進行質(zhì)量分級評定。管外徑Do100mm的管子和容器根部內(nèi)凹和根部咬邊深度可采用附錄H(規(guī)范性附錄)規(guī)定的一般對比試塊(型)進行測定。管外徑Do100mm的小徑管的根部內(nèi)凹和根部咬邊深度
55、可采用附錄H(規(guī)范性附錄)規(guī)定的小徑管專用對比試塊(A或B型)進行測定,測定時,對比試塊應(yīng)置于管的源側(cè)表面、靠近被測根部內(nèi)凹和根部咬邊缺陷附近部位。,1、理解:把根部內(nèi)凹和根部咬邊視為同一類型缺陷進行分級評定 2、應(yīng)用:根部內(nèi)凹和根部咬邊深度的測定與未焊透測定的方法相同 3、注意:對小徑管測定時,對比試塊應(yīng)置于管的源側(cè)表面,靠近被測根部內(nèi)凹和根部咬邊缺陷附近部位,6.1.9 綜合評級,在條形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在多種缺陷時,應(yīng)進行綜合評級。對各類缺陷分別評定級別,取質(zhì)量級別最低的級別作為綜合評級的級別;當各類缺陷的級別相同時,則降低一級作為綜合評級的級別。,1、理解:在條形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在多
56、種缺陷時,應(yīng)進行綜合評級。(不是圓形缺陷評定區(qū)) 2、應(yīng)用:例如1:在條形缺陷評定區(qū)內(nèi)未焊透評級、內(nèi)凹評級、條形缺陷級,綜合評級后該底片的最終級別為級 例如2:在條形缺陷評定區(qū)內(nèi)未焊透評級、內(nèi)凹評級、條形缺陷級綜合評級后該底片的最終級別為級 3、注意:綜合評級也應(yīng)在報告中注明,6.2 鋁及鋁合金制承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)形對接接頭射線檢測質(zhì)量分級(略)6.3 鈦制及鈦合金制承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線檢測質(zhì)量分級(略),7 射線檢測報告,檢測報告至少應(yīng)包括下述內(nèi)容: a) 委托單位; b) 被檢工件:名稱、編號、規(guī)格、材質(zhì)、坡口型式、焊接方法和熱處理狀況; c) 檢測設(shè)備:名稱、型號和焦點尺寸; d) 檢測標準和驗收等級: e) 檢測規(guī)范:技術(shù)等級、透照布置、膠片、增感屏、射線能量、曝光量、焦距、暗室處理方式和條件等; f)工件檢測部位及布片草圖; g)檢測結(jié)果及質(zhì)量分級; h)檢測人員和責任人員簽字及其技術(shù)資格; i)檢測日期。,1、理解:標準中規(guī)定的九條是最基本的內(nèi)容,這些內(nèi)容在報告中必須包括。對檢驗檢測單位,檢測報告中還應(yīng)有工藝卡和原始記錄的編號 2、應(yīng)用:凡是檢驗檢測單位編制的檢測報告均應(yīng)包括上述內(nèi)容,對特種設(shè)備制造、安裝單位還應(yīng)按照相關(guān)規(guī)定執(zhí)行。 3、注意:對甲方或使用方指定用的檢測報告應(yīng)在合同中注明。,謝 謝 各 位,
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