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1、第8章零件質(zhì)量檢驗,8.1檢測基礎知識,8.2典型參數(shù)的檢測,8.3現(xiàn)代測量方法概述,“檢驗”就是確定產(chǎn)品是否滿足設計要求的過程，即判斷產(chǎn)品合格性的過程。,分為兩類：定性檢驗和定量檢驗。,8.8.1測量的基本要素,被測量、計量單位、測量方法（含測量器具）和測量誤差等四個要素。,8.1檢測基礎知識,8.1.2檢測的一般步驟,1確定被檢測項目 2設計檢測方案 3選擇檢測器具 4檢測前準備 5采集數(shù)據(jù) 6數(shù)據(jù)處理 7填報檢測結(jié)果,8.1.4量具、測量儀器和測量裝置,單值量具（如量塊、角度量塊等）,多值量具（如線紋尺、90角尺等）,專用量具（如光滑極限量規(guī)，螺紋量規(guī)，檢驗樣板，功能量規(guī)等）,通用量具（

2、如游標卡尺、外徑千分尺、百分表等）。,測量方法分類,1直接測量和間接測量,圖8-3 間接測量,圖8-2 直接測量,2絕對測量和相對測量：,如用游標卡尺測量軸徑屬絕對測量，,內(nèi)徑百分表測量孔徑則為相對測量。,3接觸測量和非接觸測量,用外徑千分尺測量軸徑為接觸測量，,用光切法顯微鏡測量表面粗糙度即屬于非接觸測量。,4、單項測量和綜合測量,用測量器具分別測出螺紋的中徑、半角及螺距屬單項測量；,而用螺紋量規(guī)的通端檢測螺紋則屬綜合測量。,5被動測量和主動測量,圓柱軸徑、孔徑的測量,大批量生產(chǎn)中、低精度的軸（孔）多用極限量規(guī)來檢驗。,生產(chǎn)批量較小，或需要得到被測工件的實際尺寸時，中、低精度的軸和孔，,游標

3、卡尺、外徑千分尺、內(nèi)徑百分表等普通計量器具測量,8.2 典型參數(shù)的檢測,1用立式光學比較儀測量軸徑,1光源； 2反射鏡；3物鏡焦平面刻度尺；4影像； 5棱鏡；6物鏡； 7反射鏡；8測桿；9支點10目鏡 圖8-5 光學比較儀光路圖,2用內(nèi)徑百分表測量孔徑,1百分表 2接長桿 3活動測頭 4等臂杠桿 5可換測量頭 6定心及鎖緊裝置 圖8-6 內(nèi)徑百分表工作原理,823角度的測量,1主尺2游標尺3基尺 4壓板5角尺6直尺 圖8-8 萬能角度尺,圖8-9萬能角度尺測量組合,8.2.4同軸度的測量,圖8-10同軸度誤差測量（模擬法）,8.2.5垂直度的測量,圖8-11垂直度誤差測量（打表法）,圖8-12

4、垂直度誤差測量（光隙法）,8.2.6平行度的測量,1.被測零件 2.測量平板 3.磁性表座 圖8-13平行度誤差測量（打表法）,圖8-14平行度誤差測量（水平儀法）,8.2.7表面粗糙度的測量,,表面粗糙度的檢測方法有比較測量法、非接觸測量法、接觸測量法和印模法。,現(xiàn)場常用的是比較測量法：,將被測表面與已知其評定參數(shù)值的粗糙度標準樣板（如圖8-15所示）相比較，通過視覺、觸感或其它方法進行比較后，對被測表面的粗糙度作出評定的方法。,8.2.8螺紋的測量,螺紋的檢測分綜合檢驗和單項測量,綜合檢驗常用的量規(guī)是螺紋量規(guī)和光滑極限量規(guī)。,螺紋量規(guī)分為螺紋塞規(guī)（如圖8-16所示）和螺紋環(huán)規(guī),圖8-16螺

5、紋塞規(guī),圖8-17 螺紋環(huán)規(guī),單項測量 是對螺紋的各參數(shù)如中徑d2、螺距p、牙型半角/2等分別進行測量,常用的測量器具有螺紋千分尺、三針、公法線千分尺、萬能工具顯微鏡等。,圖8-18 三針法測量螺紋中徑,圖8-19 螺紋千分尺測量螺紋中徑,8.3.1新型傳感技術與應用,傳感技術是實現(xiàn)測量數(shù)字化、自動化、智能化的關鍵。新型的傳感器主要有：光柵、磁柵、激光、感應同步器等。,8.3 現(xiàn)代測量方法概述,8.3.2三坐標測量機,在測量機的本體上有相互垂直的x、y、z三個坐標，在各坐標上裝有刻度尺和讀數(shù)頭，讀數(shù)頭用于讀取刻度尺上的數(shù)據(jù)。通過計算機系統(tǒng)實現(xiàn)對數(shù)據(jù)的自動處理和測量過程的自動控制。,8.3.3自動檢測系統(tǒng),在現(xiàn)代幾何量檢測技術領域中，自動檢測是一個重要的發(fā)展方向，除了三坐標測量機及其組成的自動檢驗線，數(shù)控測量中心外，在機械制造過程中，還有多種自動檢測系統(tǒng)。,自動檢測系統(tǒng)按其控制系統(tǒng)的類別可分為機械式、氣液式、電子式和計算機控制式等。,END,