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1、“物理實驗基礎(chǔ)”教案----實驗7-13 物理教學(xué)實驗中心
實驗7-13 X光透視與食鹽晶體結(jié)構(gòu)分析
1、實驗沿革:
這個實驗是先買了一臺儀器,做小課題實驗,讓少數(shù)同學(xué)作了二學(xué)期,2002年下半年選為“大理科平臺”普通物理實驗。該實驗?zāi)苁箤W(xué)生直觀地認識到X光的產(chǎn)生機制及其基本性質(zhì),并可了解晶體衍射的初步知識。
2、實驗?zāi)康模?
(1)了解X光產(chǎn)生機理及其基本性質(zhì)。
(2)淺嘗晶體結(jié)構(gòu)分析。
3、實驗原理補充:
(1)韌致輻射的強度、波長與工作電壓、電流的大小有關(guān)
2、。
(2)X光特征譜的強度、波長與工作電壓、電流的關(guān)系。
(3)晶體衍射初步:
處在格點上是原子或離子,其內(nèi)部的電子在外來的電磁場的作用下做受迫振動,成為一個新的波源,向各個方向發(fā)射電磁波。即X射線照射下,晶體中的每個格點成為一個散射中心。它們發(fā)出的電磁波頻率與外來X射線頻率相同,而且這些散射是彼此相干的,將在空間發(fā)生干涉。
晶體中的衍射可以分為點間干涉和面間干涉。從點間干涉考慮得到每個晶面衍射主極強方向的條件是q = q ¢,即沿反射方向。從面間干涉考慮得到光程差必須是l 的整數(shù)倍,2dSinq = kl,這就是布拉格條件。
4、實驗前的準備:
(1)檢查實驗所用晶
3、體是否齊全,一次性手套是否備好。
(2)打印機正常及打印紙。
5、預(yù)習(xí)要求及質(zhì)疑:
(1)通讀講義,了解實驗?zāi)康?、原理及步驟。對不懂的問題,準備好問老師。
(2)寫預(yù)習(xí)報告,包括實驗名稱、原理簡述及電路圖。
(3)質(zhì)疑:
①X光是如何產(chǎn)生的?高速運動的電子達到一定的金屬靶上,使金屬內(nèi)層電子電離或激發(fā),外層電子躍遷到內(nèi)層,便會發(fā)出相應(yīng)的X光。
②X光為何可做晶體結(jié)構(gòu)分析?因為X光波長與晶格常數(shù)相當(dāng),可使晶體產(chǎn)生干涉和衍射。
6、實驗內(nèi)容:
(1)觀察X光透射現(xiàn)象。
(2)測出NaCl的衍射譜并記下各峰的值。
7、實驗中常見的問題及解決辦法:
· 設(shè)置好了高壓、
4、管流,可為什么看不到透射像呢?(熒光屏防護罩是否已打開,光縫是否已卸下?)
· 如何記錄實驗現(xiàn)象呢?(注意不要同時改變兩個變量)
· 拿取NaCl晶體時,一定要小心輕放、愛惜樣品,使用完畢,放入干燥缸。
· 為何反射曲線跟書上的例圖有如此大差距?(提示:檢查實驗條件的設(shè)置、樣品的放置、儀器零點的調(diào)節(jié)等)
· 如何調(diào)零?(參照課本選做內(nèi)容二)
· 為何反射曲線上峰是一對一對出現(xiàn)的呢?(鉬有兩條特征譜線)
· 為何不直接取反射曲線上的各峰值點計算NaCl的晶面間距?(作圖軟件不是曲線擬合數(shù)據(jù))
· 研究X光的吸收與材料厚度關(guān)系時,應(yīng)采用什么樣的掃描模式呢?如何設(shè)置實驗條件?(targ
5、et模式掃描,高壓設(shè)置為25kV,管流設(shè)置為0.3mA)
8、典型數(shù)據(jù):
(1)透射現(xiàn)象
U / KV
I / mA
透射象的強度
透射象的清晰度
35
1
強
清晰
31.5
1
減弱
清晰
28
1
減弱
清晰
24.5
1
減弱
不清晰
21
1
近無
沒有透射象,只有模糊黑影
35
0.9
強
清晰
35
0.8
強
清晰
35
0.7
減弱
清晰
35
0.6
減弱
清晰
35
0.5
減弱
清晰
35
0.4
減弱
次清晰
35
0.3
減弱
次清晰
35
0.2
6、很弱
模糊
35
0.1
很弱
模糊黑影
對實驗現(xiàn)象的分析: K系標識譜線的強度與管壓和管流的關(guān)系:,由該式可知,產(chǎn)生X光的強度與管壓成指數(shù)關(guān)系,與管流成線性關(guān)系,且當(dāng)管壓小于一定值時,將無法打出鉬靶內(nèi)層電子產(chǎn)生x光。
(2)測定NaCl的晶面間距
第一個峰值
第二個峰值
第三個峰值
第四個峰值
第五個峰值
第六個峰值
b/ o
R / s-1
b/ o
R / s-1
b/ o
R / s-1
b/ o
R / s-1
b/ o
R / s-1
b/ o
R / s-1
6.2
886.6
7.0
1192.0
12.7
7、
166.6
14.3
160.0
19.5
78.2
22.0
108.2
6.3
1185.6
7.1
2226.2
12.8
245.4
14.4
413.2
19.6
94.8
22.1
161.6
6.4
1299.0
7.2
2511.0
12.9
299.8
14.5
698.4
19.7
59.0
22.2
156.6
6.5
997.6
7.3
1817.6
13.0
206.2
14.6
599.0
19.8
44.6
22.3
98.8
6.6
731.0
7.4
966.0
8、13.1
132.6
14.7
297.8
19.9
44.8
22.4
51.0
作圖處理數(shù)據(jù):
計算:由公式2dSinq = kl,可計算出食鹽的晶面間距d。
k
1
1
2
2
3
3
l / nm
0.0631
0.0711
0.0631
0.0711
0.0631
0.0711
角度b/ °
6.37
7.18
12.88
14.53
19.57
22.14
d / nm
0.2844
0.2844
0.2831
0.2834
0.2826
0.2830
\d = (0.2844 + 0.2844
9、+ 0.2831 + 0.2834 + 0.2826 + 0.2830) ′1/6 = 0.2835/nm
9、選做內(nèi)容簡述:
可做LiF的衍射譜。
10、思考題解答:
(1) X光的特征譜是這樣產(chǎn)生的:高速運動的電子打到金屬靶上,使其內(nèi)層電子被打到最外層或電離掉。其他各層的電子向此內(nèi)層躍遷,發(fā)出X光特征譜。如果改變電壓,其波長不變,而強度會隨電壓減小而減小。X光的連續(xù)譜是這樣產(chǎn)生的:高速運動的電子打到金屬靶上,因受原子核的庫侖場的作用而減速,產(chǎn)生連續(xù)的電磁波。如果改變電壓,其波長會隨電壓減小而增加,其強度隨電壓減小而減小。
(2) 因為X光穿透能力強,利用X光能看到密封容器
10、內(nèi)的物體。但并非能看到任何容器內(nèi)的物體,比如金屬等。
(3) 在實驗內(nèi)容(一)中,管端電壓降低到2/3左右時,已差不多看不到X光透射象,是因為電子速度不足以打出內(nèi)層電子,沒有X光產(chǎn)生;而電流降低到1/10左右還能看到X光投射象,是因為還有X光產(chǎn)生。
(4) COUPLED(偶合)掃描模式是靶臺與探測器同時在一定角度下轉(zhuǎn)動。保證出射角等于入射角。
(5) X光能進行晶體經(jīng)過分析,因其波長與晶格常數(shù)相當(dāng),可產(chǎn)生干涉和衍射。
(6) X光管的陽極要散熱,因為電子打到靶上會產(chǎn)生熱量而燒壞陽極金屬靶。
11、評分標準:
1)預(yù)習(xí)報告:2分
實驗?zāi)康模?.4分、實驗原理:0.6分(包括X
11、光的產(chǎn)生機理,對透射像的觀察及布拉格公式)、實驗內(nèi)容或步驟0.4分、數(shù)據(jù)表格0.6分(包括對實驗現(xiàn)象觀察的半定量表格,和衍射曲線數(shù)據(jù)記錄的表格)
以上要素每缺少1個扣相應(yīng)分數(shù),不合要求的酌減,上課遲到10分鐘以內(nèi)扣0.2分,超過10分鐘扣0.5分。若預(yù)習(xí)報告原封不動照抄課本則預(yù)習(xí)分數(shù)減半。
2)實驗操作:4分
獨立操作無明顯失誤:1分
實驗儀器的記錄:0.5分
實驗現(xiàn)象的記錄:1分(包括對實驗條件的記錄和現(xiàn)象的詳細描述)
實驗數(shù)據(jù):1分(包括對實驗條件的記錄)
其它:0.5分(比如記錄實驗中的問題和想法、能正確回答老師提問、能獨立地解決實驗中出現(xiàn)的問題等)
3)實驗報告:4分
12、
對實驗現(xiàn)象的解釋:0.8分(高壓、管流的作用各0.4分)
作圖:0.6分(6個小圖,每個0.1分)
d的計算:0.6分(每個0.1分,包括單位及有效數(shù)字)
實驗結(jié)果與討論:1分
有自己獨到的見解:1分
4)其它:
①、以上實驗,若學(xué)生做了選作內(nèi)容,可加0.5分左右,不超過1分,相當(dāng)于占用“有自己獨到的見解”部分的分值。
②、實驗數(shù)據(jù)處理或?qū)嶒炗懻摪l(fā)現(xiàn)有抄襲現(xiàn)象,不管是抄襲者還是被抄襲者,實驗報告部分的分數(shù)全部扣除,并在發(fā)報告是給與警告。
③、若實驗報告非常不整潔,難以辨認,可扣0.5分。
④、若實驗報告遲交,實驗報告部分成績按80%記錄,實驗后2周仍未交報告的,實驗報告部分為0分。
⑤、若認真地訂正報告中的錯誤,可適當(dāng)加分。
12、考試題集錦:
13、參考資料及儀器說明書:
(1)趙凱華 光學(xué) 北京大學(xué)出版社 P31—38。
(2)劉玉華等 原子物理學(xué) 北京師范大學(xué)出版社 P155—163。