《無(wú)損檢測(cè) 期末試題》由會(huì)員分享，可在線閱讀，更多相關(guān)《無(wú)損檢測(cè) 期末試題（5頁(yè)珍藏版）》請(qǐng)?jiān)谘b配圖網(wǎng)上搜索。

1、1.用顯像劑把滲入缺陷內(nèi)的滲透液吸附出來(lái)的原理是基于(液體的毛細(xì)作用 ) 下列關(guān)于磁化電流方向與缺陷方向關(guān)系的敘述中，正確的是（ B ） A、直接通電磁化時(shí)，與電流方向垂直的缺陷最易于檢出； B、直接通電磁化時(shí)，與電流方向平行的缺陷最易于檢出； C、直接通電磁化時(shí)，與電流方向無(wú)關(guān)，任何方向的缺陷都可以檢出； D、用線圈法磁化時(shí)，與線圈內(nèi)電流方向垂直的缺陷最易于檢出。 3.簡(jiǎn)述：無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的概念？無(wú)損檢測(cè)目的是什么？ 無(wú)損檢測(cè)方法選擇的依據(jù)？ 無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是在不損傷被檢測(cè)對(duì)象的條件下，利用材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)異?；蛉毕荽嬖谒鸬膶?duì)熱、聲、光、電、磁等反應(yīng)的變化，來(lái)探測(cè)各種工

2、程材料、零部件、結(jié)構(gòu)件等內(nèi)部或表面缺陷，并對(duì)缺陷的類型、性質(zhì)、數(shù)量、形狀、位置、尺寸、分布及其變化做出判斷和評(píng)價(jià)的技術(shù)總稱。（不損傷產(chǎn)品又能發(fā)現(xiàn)缺陷的檢測(cè)方法或技術(shù)）； 無(wú)損檢測(cè)的目的：定量掌握缺陷與強(qiáng)度的關(guān)系，評(píng)價(jià)構(gòu)件的允許負(fù)荷、壽命或剩余壽命；檢測(cè)設(shè)備（構(gòu)件）在制造和使用過(guò)程中產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)不完整性及缺陷情況，以便改進(jìn)制造工藝，提高產(chǎn)品質(zhì)量，及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障，保證設(shè)備安全、高效可靠地運(yùn)行。（質(zhì)量管理、在役檢測(cè)、質(zhì)量鑒定）； 依據(jù)：產(chǎn)品圖樣、相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)文件、訂貨合同。（經(jīng)濟(jì)性原則：經(jīng)濟(jì)效益、制造成本、使用成本；技術(shù)方面：材料特性、零部件形狀、零部件中可能產(chǎn)生的缺陷的形態(tài)、缺陷在零部件中可能存

3、在的部位）。 4、 簡(jiǎn)述：超聲波超聲場(chǎng)的近場(chǎng)區(qū)、遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)、指向性的概念。（要求有相關(guān)的圖和公式）簡(jiǎn)述：超聲波聲衰減有幾種類型？ 其中D為壓電晶片半徑， 指向性：按直線傳播；束射性，即能集中在超聲場(chǎng)中定向輻射。 衰減類型：吸收衰減、散射衰減、擴(kuò)散衰減。 5.簡(jiǎn)述：超聲波的特點(diǎn)？超聲波有哪些基本波型？超聲波的適用范圍？ 特點(diǎn)：良好的指向性，直線傳播，束射性（波長(zhǎng)越短，擴(kuò)散角越小，聲能越集中）；較強(qiáng)的穿透性，伴隨有衰減（擴(kuò)散、散射、吸收）。 基本波形：縱波（L）：固液氣態(tài)，介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向與波的傳播方向相同的超聲波；橫波（S或T）：固態(tài)，介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向垂直于波的傳播方向；表

4、面波(R)瑞利波：固態(tài)，沿介質(zhì)表面?zhèn)鞑?；板波，蘭姆波，在板厚和波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)膹椥员“逯袀鞑?。P.S.超聲縱波在特定的頻率下，被封閉在介質(zhì)側(cè)面之中的現(xiàn)象叫波導(dǎo)，此時(shí)的波叫導(dǎo)波。 適用范圍：各種尺寸的鍛件、軋制件、焊縫或某些鑄件；無(wú)損檢測(cè)厚度、材料硬度、淬硬層深度、晶粒度、液位和流量、殘余應(yīng)力和膠接強(qiáng)度等。 6.簡(jiǎn)述：X射線檢測(cè)的原理與方法和特點(diǎn)？對(duì)射線檢測(cè)中的防護(hù)要點(diǎn)？ 原理：當(dāng)射線通過(guò)被檢物體時(shí)，物體中有缺陷的部位與無(wú)缺陷部位對(duì)射線的吸收能力不同，一般情況是透過(guò)有缺陷部位的射線強(qiáng)度高于無(wú)缺陷部位的射線強(qiáng)度，因此可以通過(guò)檢測(cè)透過(guò)被檢物體后的射線強(qiáng)度的差異，來(lái)判斷被檢物體中是否存在缺陷。 方法

5、：照相法、電離檢測(cè)法、熒光屏直接觀察法、電視觀察法。 特點(diǎn)：可以根據(jù)不同檢測(cè)厚度來(lái)調(diào)節(jié)能量（X射線的強(qiáng)度可由管電流和管電壓靈活調(diào)節(jié)），靈敏度高；在垂直電子束的方向上最強(qiáng)，在平行電子束的方向上最弱。（X射線的強(qiáng)度在空間的分布是不均勻的，而且具有一定的擴(kuò)散角，并不是平行光。） 防護(hù)要點(diǎn)：屏蔽防護(hù)法，利用各種屏蔽物體吸收射線，以減少射線對(duì)人體的傷害；距離防護(hù)法；時(shí)間防護(hù)法，讓射線照相檢測(cè)人員盡可能減少接觸射線的時(shí)間，以保證其在任一天都不超過(guò)國(guó)家規(guī)定的最大允許劑量當(dāng)量（17mrem）。 7. 簡(jiǎn)述：磁粉檢測(cè)的原理？主要檢測(cè)工藝過(guò)程？ 原理：利用磁化材料或工件表面的漏磁場(chǎng)吸引磁粉顆?；虼艖乙褐械?/p>

6、磁粉顆粒，使其在具有較強(qiáng)漏磁場(chǎng)的位置集聚，從而形成磁痕達(dá)到顯示缺陷的效果。 工藝過(guò)程：預(yù)處理 勵(lì)磁 噴灑磁粉顆?；虼艖乙? 觀察磁痕 拍照或記錄 退磁 后處理 8. 簡(jiǎn)述：什么叫規(guī)一化阻抗？為什么要對(duì)檢測(cè)線圈阻抗進(jìn)行規(guī)一化處理？（要有圖） 原因：若初級(jí)線圈本身的電參數(shù)略有變化，Z的軌跡也會(huì)變化, 為了消除初級(jí)線圈自身阻抗的變化對(duì)Z的影響,所以進(jìn)行規(guī)一化處理。 規(guī)一化阻抗： 1.先將圖3-7的坐標(biāo)向右平移R1距離，再用去除其X和R坐標(biāo)， 2.使Z的半圓軌跡的直徑重合在X軸上(圖3-8)，軌跡上諸點(diǎn)位置則取決于變

7、量的實(shí)際取值。 9.簡(jiǎn)述：1渦流檢測(cè)的原理 2趨膚效應(yīng)概念？3滲透深度概念？ 渦流檢測(cè)：（檢測(cè)線圈中通有交變電流時(shí)，在線圈周?chē)a(chǎn)生交變磁場(chǎng)；當(dāng)此交變 磁場(chǎng)相對(duì)導(dǎo)體運(yùn)動(dòng)時(shí)，導(dǎo)體中會(huì)感應(yīng)出渦狀流動(dòng)的電流，即渦流。）可利用電磁感應(yīng)原理，可通過(guò)測(cè)定被檢工件內(nèi)感生渦流的變化來(lái)無(wú)損評(píng)定導(dǎo)電材料及其工件的某些性能或發(fā)現(xiàn)缺陷。 趨膚效應(yīng)：（當(dāng)激勵(lì)線圈中通以交變電流時(shí)，在試件某一深度上流動(dòng)的渦流會(huì)產(chǎn)生一個(gè)與原磁場(chǎng)反向的磁場(chǎng)，減少了原來(lái)的磁通，并導(dǎo)致了更深層的渦流的減少，所以渦流密度隨著離表面距離的增加而減少，其變化取決于激勵(lì)頻率、試件的電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率，）在試件中感應(yīng)出的渦流集中在靠近激勵(lì)線圈的材料表面附近，這種現(xiàn)象叫做趨膚效應(yīng)。 滲透深度：渦流檢測(cè)中，渦流密度衰減為其表面密度的1/e（36.8%）時(shí)對(duì)應(yīng)的深度。 10. 簡(jiǎn)述：滲透檢測(cè)的基本原理？滲透檢測(cè)的幾大工藝過(guò)程？ 滲透檢測(cè)：當(dāng)將溶有熒光染料或著色染料的滲透液施加到零部件表面，由于毛細(xì)作用，滲透液滲入到細(xì)小的表面開(kāi)口缺陷中，清除附在工件表面多余的滲透液，經(jīng)干燥后再施加顯像劑，缺陷中的滲透液在毛細(xì)現(xiàn)象的作用下被重新吸附到零件表面上，就會(huì)形成放大了的缺陷顯示，便可檢測(cè)出缺陷的形貌和分布狀態(tài)。 工藝過(guò)程：表面準(zhǔn)備和預(yù)清洗、滲透、去除表面多余的滲透液、干燥、顯像、檢驗(yàn)。