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VP02 真空吸附泵和真空吸附泵價(jià)格
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VP02真空吸附泵
標(biāo)題:VP02真空吸附泵
VP02是橢偏儀配套使用的通用微型真空吸附 泵。VP02與橢偏儀配合,用于把較薄的樣品 穩(wěn)定地吸附到樣品臺面上,對于傾斜放置的平 面樣品尤其重要。VP02采用通用真空泵部件, 具有獨(dú)立開關(guān),操作方便。特點(diǎn):吸附力強(qiáng)極 限壓力可達(dá)到-50KPa。壽命長使用壽命可達(dá) 到5000h。噪聲低 噪聲小于40dB,采用獨(dú)特 的消聲管,可更安靜。體積小外形體積僅為: 130 x 79 x 206mm3。應(yīng)用: VP02 用于把較 薄的樣品穩(wěn)定地吸附到樣品臺面上,對于傾斜 放置的平面樣品尤其重要。VP02可與臺
2、式橢 偏儀配套使用。VP02也可單獨(dú)使用。技術(shù)指 標(biāo):項(xiàng)目內(nèi)容名稱微型真空吸附泵型號
VP02極限壓力(KPa) -50抽氣速率
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廠家:南北儀器 市場價(jià)格:
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EX3自動(dòng)橢圓偏振
測厚儀
標(biāo)題:EX3自動(dòng)橢圓偏振測厚儀
EX3自動(dòng)橢圓偏振測厚儀是基于消光法(或稱 “零橢偏”)測量原理,針對納米 薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測量型教學(xué) 儀器。與EM22儀器相比,該儀器采用半導(dǎo)體 激光器作為光源,穩(wěn)定性好,體積更小。EX3 儀器適用于納米薄膜的厚度測量,以及納米薄 膜的厚度和折射率同時(shí)測量。EX3儀器
3、還可 用于同時(shí)測量塊狀材料(如,金屬、半導(dǎo)體、 介質(zhì))的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn):經(jīng)典 消光法橢偏測量原理儀器采用消光法橢偏測 量原理,易于操作者理解和掌握橢偏測量基本 原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式 采用水平放置樣品的方式,方便樣品的取放。 緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì),簡潔的儀
廠家:南北儀器 市場價(jià)格:
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器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連,方便儀器 使用。高穩(wěn)定性光源采用半導(dǎo)體激光器作為 探測光…
EX2自動(dòng)橢圓偏振測
厚儀
標(biāo)題:EX2自動(dòng)橢圓偏振測厚儀
EX2自動(dòng)橢圓偏振測厚儀是基于消光法(或稱 “零橢偏&r
4、dquo;)橢偏測量原理,針對 納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測量型 教學(xué)儀器。EX2儀器適用于納米薄膜的厚度 測量,以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測量。 EX2儀器還可用于同時(shí)測量塊狀材料(如,金 屬、半導(dǎo)體、介質(zhì))的折射率n和消光系數(shù)k。 特點(diǎn)經(jīng)典消光法橢偏測量原理儀器采用消光 法橢偏測量原理,易于操作者理解和掌握橢偏 測量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放 置方式采用水平放置樣品的方式,方便樣品的 取放。緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì), 簡潔的儀器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連, 方便使用。咼準(zhǔn)確性的激光光源米用激光作 為探測光波,測量波長準(zhǔn)確度咼。豐富實(shí)用的 樣品測量功能可測量納
5、米薄膜的膜...
廠家:南北儀器 市場價(jià)格:
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EX3自動(dòng)橢圓偏振測
厚儀
標(biāo)題:EX3自動(dòng)橢圓偏振測厚儀
EX3自動(dòng)橢圓偏振測厚儀是基于消光法(或稱 “零橢偏”)測量原理,針對納米 薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測量型教學(xué) 儀器。與EM22儀器相比,該儀器采用半導(dǎo)體 激光器作為光源,穩(wěn)定性好,體積更小。EX3 儀器適用于納米薄膜的厚度測量,以及納米薄 膜的厚度和折射率同時(shí)測量。EX3儀器還可 用于同時(shí)測量塊狀材料(如,金屬、半導(dǎo)體、 介質(zhì))的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn):經(jīng)典 消光法橢偏測量原理儀器采用消光法橢偏測 量原理,易
6、于操作者理解和掌握橢偏測量基本
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原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式 采用水平放置樣品的方式,方便樣品的取放。 緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì),簡潔的儀 器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連,方便儀器 使用。高穩(wěn)定性光源采用半導(dǎo)體激光器作為 探測光…
ETSys-Map-PV 在線
薄膜測量系統(tǒng)
標(biāo)題:ETSys-Map-PV在線薄膜測量系統(tǒng) ETSys-Map-PV是針對高端薄膜太陽電池研發(fā) 和質(zhì)量控制領(lǐng)域中大面積樣品檢測專門設(shè)計(jì)的 在線薄膜測量系統(tǒng)。ETSys-Map-PV用于對 1.4m * 1.1m及以上的大
7、面積薄膜太陽電池樣 品進(jìn)行在線檢測??蓽y量光滑平面或粗糙表面 基底上的納米薄膜,包括單層或多層納米薄膜 樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k;并 可同時(shí)測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)ko 可測量樣品上指定區(qū)域的樣品參數(shù)以及樣品表 面的均一性分布。ETSys-Map-PV融合量拓科 技在高精度激光橢偏儀及光伏在太陽能電池領(lǐng) 域的先進(jìn)技術(shù)和產(chǎn)品設(shè)計(jì)方面的經(jīng)驗(yàn),性能卓 越。特點(diǎn):大面積絨面樣品上全表面測量可 對大面積絨面薄膜太陽電池樣品上各點(diǎn)的性質(zhì) 進(jìn)行分析和比較。先進(jìn)的光能量增強(qiáng)技術(shù)、低 噪聲的探測器件以及高信噪比的微弱信號處理 方法,實(shí)現(xiàn)了…
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