《計(jì)算機(jī)三級(jí)《軟件測(cè)試技術(shù)》練習(xí)題》由會(huì)員分享，可在線閱讀，更多相關(guān)《計(jì)算機(jī)三級(jí)《軟件測(cè)試技術(shù)》練習(xí)題（2頁(yè)珍藏版）》請(qǐng)?jiān)谘b配圖網(wǎng)上搜索。

1、計(jì)算機(jī)三級(jí)《軟件測(cè)試技術(shù)》練習(xí)題 計(jì)算機(jī)三級(jí)《軟件測(cè)試技術(shù)》練習(xí)題 　　軟件測(cè)試技術(shù)是軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中的一個(gè)重要組成部分，是貫穿整個(gè)軟件開(kāi)發(fā)生命周期、對(duì)軟件產(chǎn)品(包括階段性產(chǎn)品)進(jìn)行驗(yàn)證和確認(rèn)的活動(dòng)過(guò)程，其目的是盡快盡早地發(fā)現(xiàn)在軟件產(chǎn)品中所存在的各種問(wèn)題--與用戶需求、預(yù)先定義的不一致性。下面是小編給大家整理了計(jì)算機(jī)三級(jí)《軟件測(cè)試技術(shù)》練習(xí)題，供大家參閱。 　　一、選擇題 　　1.軟件驗(yàn)收測(cè)試的合格通過(guò)準(zhǔn)則是：(ABCD) 　　A.軟件需求分析說(shuō)明書(shū)中定義的所有功能已全部實(shí)現(xiàn)，性能指標(biāo)全部達(dá)到要求。 　　B.所有測(cè)試項(xiàng)沒(méi)有殘余一級(jí)、二級(jí)和三級(jí)錯(cuò)誤。 　　C.立項(xiàng)審批表、需求分析

2、文檔、設(shè)計(jì)文檔和編碼實(shí)現(xiàn)一致。 　　D.驗(yàn)收測(cè)試工件齊全。 　　2.軟件測(cè)試計(jì)劃評(píng)審會(huì)需要哪些人員參加?(ABCD) 　　A.項(xiàng)目經(jīng)理 　　B.SQA負(fù)責(zé)人 　　C.配置負(fù)責(zé)人 　　D.測(cè)試組 　　3.下列關(guān)于alpha測(cè)試的描述中正確的是：(AD)A.alpha測(cè)試需要用戶代表參加B.alpha測(cè)試不需要用戶代表參加C.alpha測(cè)試是系統(tǒng)測(cè)試的一種D.alpha測(cè)試是驗(yàn)收測(cè)試的一種4.測(cè)試設(shè)計(jì)員的職責(zé)有：(BC) 　　A.制定測(cè)試計(jì)劃 　　B.設(shè)計(jì)測(cè)試用例 　　C.設(shè)計(jì)測(cè)試過(guò)程、腳本 　　D.評(píng)估測(cè)試活動(dòng) 　　5.軟件實(shí)施活動(dòng)的進(jìn)入準(zhǔn)則是：(ABC) 　　A.需求

3、工件已經(jīng)被基線化 　　B.詳細(xì)設(shè)計(jì)工件已經(jīng)被基線化 　　C.構(gòu)架工件已經(jīng)被基線化 　　D.項(xiàng)目階段成果已經(jīng)被基線化 　　二、判斷題 　　1.軟件測(cè)試的目的是盡可能多的找出軟件的缺陷。(Y) 　　2.Beta測(cè)試是驗(yàn)收測(cè)試的一種。(Y) 　　3.驗(yàn)收測(cè)試是由最終用戶來(lái)實(shí)施的。(N) 　　4.項(xiàng)目立項(xiàng)前測(cè)試人員不需要提交任何工件。(Y) 　　5.單元測(cè)試能發(fā)現(xiàn)約80%的軟件缺陷。(Y) 　　6.代碼評(píng)審是檢查源代碼是否達(dá)到模塊設(shè)計(jì)的要求。(N) 　　7.自底向上集成需要測(cè)試員編寫(xiě)驅(qū)動(dòng)程序。(Y) 　　8.負(fù)載測(cè)試是驗(yàn)證要檢驗(yàn)的系統(tǒng)的能力最高能達(dá)到什么程度。(N) 　　9.

4、測(cè)試人員要堅(jiān)持原則，缺陷未修復(fù)完堅(jiān)決不予通過(guò)。(N) 　　10.代碼評(píng)審員一般由測(cè)試員擔(dān)任。(N) 　　11.我們可以人為的使得軟件不存在配置問(wèn)題。(N) 　　12.集成測(cè)試計(jì)劃在需求分析階段末提交。(N) 　　13.測(cè)試是為了驗(yàn)證軟件已正確地實(shí)現(xiàn)了用戶的要求。(N) 　　14.白盒測(cè)試僅與程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)有關(guān)，完全可以不考慮程序的功能要求。(Y) 　　15.黑盒測(cè)試的測(cè)試用例是根據(jù)程序內(nèi)部邏輯設(shè)計(jì)的。(N) 　　16.為了快速完成集成測(cè)試,采用一次性集成方式是適宜的。(N) 　　17.在軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中，若能推遲暴露其中的錯(cuò)誤，則為修復(fù)和改正錯(cuò)誤所花費(fèi)的.代價(jià)就會(huì)降低。(N)

5、　　三、簡(jiǎn)答題 　　單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試的側(cè)重點(diǎn)是什么? 　　單元測(cè)試是在軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中要進(jìn)行的最低級(jí)別的測(cè)試活動(dòng)，在單元測(cè)試活動(dòng)中，軟件的獨(dú)立單元將在與程序的其他部分相隔離的情況下進(jìn)行測(cè)試。 　　集成測(cè)試，也叫組裝測(cè)試或聯(lián)合測(cè)試。在單元測(cè)試的基礎(chǔ)上，將所有模塊按照設(shè)計(jì)要求，組裝成為子系統(tǒng)或系統(tǒng)，進(jìn)行集成測(cè)試。實(shí)踐表明，一些模塊雖然能夠單獨(dú)地工作，但并不能保證連接起來(lái)也能正常的工作。程序在某些局部反映不出來(lái)的問(wèn)題，在全局上很可能暴露出來(lái)，影響功能的實(shí)現(xiàn)。 　　系統(tǒng)測(cè)試是將經(jīng)過(guò)測(cè)試的子系統(tǒng)裝配成一個(gè)完整系統(tǒng)來(lái)測(cè)試。它是檢驗(yàn)系統(tǒng)是否確實(shí)能提供系統(tǒng)方案說(shuō)明書(shū)中指定功能的有效方法。

6、　　設(shè)計(jì)用例的方法、依據(jù)有那些? 　　白盒測(cè)試：邏輯覆蓋法，主要包括語(yǔ)句覆蓋，判斷覆蓋，條件覆蓋，判斷-條件覆蓋，路徑覆蓋 　　黑盒測(cè)試：等價(jià)劃分類(lèi)，邊界值分析，錯(cuò)誤推測(cè)法。 　　集成測(cè)試通常都有那些策略? 　　1、在把各個(gè)模塊連接起來(lái)的時(shí)候，穿越模塊接口的數(shù)據(jù)是否會(huì)丟失; 　　2、各個(gè)子功能組合起來(lái)，能否達(dá)到預(yù)期要求的父功能; 　　3、一個(gè)模塊的功能是否會(huì)對(duì)另一個(gè)模塊的功能產(chǎn)生不利的影響; 　　4、全局?jǐn)?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)是否有問(wèn)題; 　　5、單個(gè)模塊的誤差積累起來(lái)，是否會(huì)放大，從而達(dá)到不可接受的程度。 　　一個(gè)缺陷測(cè)試報(bào)告的組成 　　缺陷的標(biāo)題，缺陷的基本信息，復(fù)現(xiàn)缺陷的操作步驟，缺陷的實(shí)際結(jié)果描述，期望的正確結(jié)果描述，注釋文字和截取的缺陷圖象。