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1、授課：XXX1 ICT培訓教材培訓教材授課：XXX2目錄目錄一一.ICT的基本認識的基本認識二二ICT的測試原理的測試原理三三ICT測試程序的制作測試程序的制作四四ICT誤測分析誤測分析五五ICT的轉機流程的轉機流程六六.ICT程序調試時注意事項程序調試時注意事項七七ICT常見故障檢修常見故障檢修八八. 文件放置指引文件放置指引九九.覆蓋率的定義覆蓋率的定義授課：XXX3一一.ICT的基本認識的基本認識授課：XXX4 1. ICT即在線測試儀（In Circuit Tester）,是一大堆高級電表的組合。但它能對在線電路板上的元件測試進行有效的隔 離(Guarding),而萬用表則不能.所以,

2、萬用表能測的它也能測,萬 用表不能測的,它可能能測. 2. ICT能測:Open/Short;R;C;L;D;Q;IC等. 3. ICT與ATE的區(qū)別: ICT只作靜態(tài)測試,而ATE則作動態(tài)測試.即ICT對被測板不通電,而ATE要對被測板通電才能測試,授課：XXX5二二ICT的測試原理的測試原理授課：XXX6 當Rx有旁路（R1)時， Ix=Is-I1Is 故：Vx/IsRx此時取A 點電位Va, 送至C 點, 令Vc=Va, 則： I1=(Va-Vc)/R1=0, Is=Ix 從而： Vx/Is=Rx如圖:Vx+-IsIxI1ABCICTVaVbVcWhen Vc=Va I1=(Va-Vc)

3、/R1=0RxR1+-U?326741. Guarding(隔離隔離)的實現(xiàn)的實現(xiàn)：授課：XXX7 2. 量測電阻量測電阻R： (1).單個單個R(mode D1,D2): 直流定電流源: 利用Vx=IsRx（歐姆定律）， 則Rx=Vx/Is. 信號源Is取恒流 （0.1uA5mA）,量回Vx即可算出Rx值.如下圖一.+-Vx=?IsRx+-Vs=0.2VIxRxC圖一圖一 圖二圖二 (2). R/C(mode V5,CV): 直流定電壓源: 信號源Vs取恒壓 （0.2V），量回 Ix，則Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix，算出Rx值.如上圖二.授課：XXX8(3).R/L(mode P1,P2

4、,P3,P4,P5): 相位法測試:信號源取交流電壓源Vs，籍相位法輔助.|Y|Cos=YRx=1/Rx,并|Y|=Ix/Vs故：Rx=1/|Y|Cos 如下圖:VsIxRxL授課：XXX93. 量測電容量測電容C&電感電感L： (1).單個單個C&L（Mode A1.A2.A3.A4.A5 ）： 交流定電壓:交流電壓源一定Vs,Vs/Ix=Zc=1/2fCx,求得：Cx=Ix/2fVs.Vs/Ix=Zl=2fLx, 求得：Lx=Vs/2fIx. 注:3UF以上電容用(Model DC) VsIxIxVsCxLx授課：XXX10(2).C/R或或L/R:(P1.P2.P3.P4.P5)相位法測

5、試: 1. |Y|Sin=|Ycx|,即CxSin=Cx 求得：Cx=CxSin (Cx=Ix/2fVs) 2.|Y|Sin=|Ycx|,即Sin/Cx=1/Cx 求得：Lx=Lx/Sin(Lx=Vs/2fIx) 如下圖:VsIxCxRIxVsLxR授課：XXX114. 量測量測PN結：結：（D、Q、IC） 信號源0-10V/3mA or 30mA可程式電壓源,量PN結導通電壓 一般順向電壓0.7V;反向電壓2.2V.授課：XXX12這里主要講下三極管的三端量測法授課：XXX13晶體管做三端點量測時 ,假設晶體管為NPN type,實際值(ACTval)設定值為DA1所送電壓，標準值(STDv

6、al)設定值即為晶體管的VCES電壓值。改變實際值(ACTval)(從0.5V往上增加) ，直到晶體管飽和導通(測試值應低于0.2V)。如果晶體管為PNP type，改變實際值(ACTval)欄的電壓(從4.5V往下減少) ，直到晶體管飽和導通（測試值應低0.2V）。授課：XXX14 5. 量測量測Open/Short： 即以阻抗判定：先對待測板上所有Pin點進行學習,R20即歸為Short Group，然后Test時進行比較，R80判為Open.短路1080開路20學習參考點授課：XXX15 6.低壓測試方法低壓測試方法(LV) 低壓功能測試是允許你供應某一定電壓到零件兩端，同時測量零件兩端

7、的電壓，如測電容反向、Zener二極管、或IC都可使用此法。 假設我們要測一個6V的穩(wěn)壓二極管,我們可以在實際值中填入9V,標準值中填入6,當實際植的單位是V,而標準值不是0時,系統(tǒng)會送出一個9V電壓至穩(wěn)壓二極管兩端,然后量測穩(wěn)壓二極管的電壓是否為5.6V,從而判定好壞.LV模式最大送出電壓為10V授課：XXX16 7.高壓測試方法高壓測試方法(HV) 高壓測試的原理與設定方法與低壓相似,只是在模式里選(HV),高壓最大送出電壓為50V授課：XXX17跳線測試跳線測試(Jumper Test) 跳線測試(Jumper Test)采用一個比較器硬件線路，因此，測試的結果只有、四個值，單位以JP表

8、示，其代表的意義如下： JP： 10 歐姆(ohm) JP： 10歐姆(ohm)， 20歐姆( ohm) JP： 20歐姆(ohm)， 80歐姆( ohm) JP： 80歐姆(ohm) 授課：XXX18三三ICT測試程序的制作測試程序的制作授課：XXX19 （一）準備好2PCS空PCB板，1PCS實板，1份BOM及原理圖（邦線圖），提供給供應商分析 （二）供應商根據(jù)我們的要求制作測試機架及原始程序 （三）根據(jù)BOM，電路圖，針點圖進行相對應的測試程序的調試授課：XXX201單板的調試 按“Ctrl+E”進入元件編輯界面 先熟悉一下界面授課：XXX21對照壞機故障，加深印象 授課：XXX22授課

9、：XXX23A 元件（元件（Component）的調試）的調試(R,C,L,D,Q) 電阻（電阻（R）Debug:(1).根據(jù)R的大小,系統(tǒng)自動調整測試電流大小. F9:單步測試 Alt+F9:整頁測試 F5:對調AB點 F10自動Guarding. Alt+H:查看串連元件.Alt+J:查看并聯(lián)元件. (2).R/C:Model(CV&V5)(3).R/D:Model(D2&V5).(4).R/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) 授課：XXX24電容（電容（C）Debug: (1).單個電容3uf以上信號源既可用交流也可用直流.300uf以上只可用DC模式.470pf以下用A4&

10、A5; 470pf3uf用A1.A2.A3模式. (2).C/R:Model(A1.A2.A3.A4.A5) (3).C/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) (4).C/D:Model(DC&A1A5)470PF3UF300UFA1.A2.A3.A4.A5DCDC.A1.A2授課：XXX25D&Q&IC的的Debug (1).單個D&Q&IC正向:0.7V左右;反向2V以上. (2).D/C:Model(LV低電壓) (3).D/D:Model(CM,除正向導通測試,還需做電流測試 (4).Zerer:需作反向電流測試.10V48V的Zerer可用 HV(高電壓)測試. (5).Q

11、的CE極:需判斷Q的類型(PNP&NPN) 為了使CE極飽和導通,NPN偏置電壓為0.7V1V; PNP偏置電壓為 4.5V2V;反向在0.5V以上.授課：XXX26 B. IC的學習的學習 a 按“Ctrl+I”進入IC編輯界面 按F4選出IC相對應的參考地（GND）或電源（VCC） 按F3保存后退出b.進入元件編輯界面,然后按”ALT+I進行保護二極體的學習,根據(jù)提示,按測試要求選擇對話框,完成IC的自動學習并保存注意:IC的參考點GND,VCC必須選對,檢查IC腳位是否和測試針點相對應,否則將產生錯誤的程序G NDIC腳針點授課：XXX27C. OPEN/SHORT的學習的學習在測試界面

12、按CTRL+L,電腦將提示放入好板并進行學習，學習后保存退出注意：系統(tǒng)只會針對有測試點的網絡進行學習。當單板程序調試穩(wěn)定后，我們就可以產生多連板啦！授課：XXX282多連板的產生多連板的產生A 在測試界面單擊設定，選擇“產生多連板程序”命令將彈出以下對話框你只用根據(jù)你的要求填入數(shù)字就可以啦比如要做一個8連板的程序，你就填入4-2，到時電腦將自動產生一個8連板的程序授課：XXX29B 接下來將彈出一個對話框，提示輸入第二塊板的最小針點號對照針點圖找到第二塊的最小針點，填入對話框在下面對話框里填入0授課：XXX30接下來是選擇新文檔存貯的路徑，假如默認的話，文件將產生一個新的程序并保存在原文件夾中

13、，不用擔心會把原單板程序覆蓋最后把程序保存，一個完整的程序就完成啦！假如還有個別不穩(wěn)定的項目，參考前面調試的方法，Debug直到穩(wěn)定授課：XXX31四四ICT誤測分析誤測分析 授課：XXX32 1. ICT無法測試部分： 記憶體IC（EPROM、SRAM、DRAM） 并聯(lián)大10倍以上大電容的小電容 并聯(lián)小20倍以上小電阻的大電阻 單端點之線路斷線 D/L，D無法量測 (6). 跳線并連 (7)IC之功能測試.2. PCB之測點或過孔綠油未打開，或PCB吃錫不好。3. 壓床壓入量不足。探針壓入量應以1/2-2/3為佳。4經過免洗制程的PCB板上松香致探針接觸不良。5PCB板定位柱松動，造成探針觸

14、位偏離焊盤。6治具探針不良損壞。7. 零件廠牌變化（可放寬+-%，IC可重新 Learning）。8. 治具未Debug好（再進行Debug）。9. ICT本身故障。授課：XXX33五五ICT的轉機流程的轉機流程授課：XXX341將待測Model 的機架準備好. 2將紅外線保護開關拔至OFF位置,依次序取下原測試機架上模和下模.的34Pin排線紅外線保護開關64Pin排線授課：XXX353將待測機架放入,對好上,下模位置并固定好,再依次序插好34Pin排線固定夾具螺絲64pin排線授課：XXX364.固定好機架后,放一待測板在機架上,再調整行程控制感應開關,使上模,待測板,下模三者充分接觸好后

15、,再固定好感應開關.行程控制開關授課：XXX376.將紅外線保護開關拔至ON位置,在D:目錄下調出待測板的測試程序.紅外線保護開關試測試5-10片待測板,PASS后交由測試員操作授課：XXX38六六.ICT程序調試時注意事項程序調試時注意事項授課：XXX39換上新機架時換上新機架時,程序出現(xiàn)不穩(wěn)定的現(xiàn)象程序出現(xiàn)不穩(wěn)定的現(xiàn)象,這時我們需作程這時我們需作程式調整式調整,但需注意如下幾項但需注意如下幾項: 1 首先要確定測試針是否良好,測試點是否接觸良好,元件是否假焊,漏料,錯料等不良. 2 按“Ctrl +E”進入元件編輯,再按“Alt +R” 跳至測試不良項,按F9進行當前項測試. 3 調整程式

16、時,要采用對比方式進行,即用多塊板進行對比調試. 4 調試時,只能在模式(MD)(光標移至此欄)按Space 進行選擇,檔位進 行 選 擇 (光標移至此欄)按Space 進行選擇,延遲時間,A.B 點對調(F5)加隔離點(F10) 五項中進行調試.授課：XXX40 5 必要時,可調整上限,下限及標準植. 6 PF級電容調試時,不可改動標準值及實際值,只作雜散電容補償調整,使用 “Alt+Y ” 自動補償 7 級電阻,測試時不穩(wěn)定時,可根據(jù)實際情況作跳線測試,即實際值欄改為 “JP” 測試, JP標準: 1JP10 ; 102JP 20 ; 20 3JP 80 . 8 電感測試不穩(wěn)定時,也可作跳

17、線測試,其方法與 級電阻設定相同,也可用頻率 (A2/A3/A4/A5) 進行調試. 如遇電感并聯(lián)電容.電阻則用(P1/P2/P3/P4/P5) 模式進行調試授課：XXX41七七ICT常見故障檢修常見故障檢修授課：XXX421系統(tǒng)板，自檢板，DC板，AC板，開關板的偵測 A打開JET下的Jet300a.dat文件進行系統(tǒng)測試 如果是電阻，二極管，三極管壞或不穩(wěn)，多為DC板故障 如果是電容壞或不穩(wěn)，多為AC板故障 兩者都有，則有可能是系統(tǒng)板或自檢板的故障 B打開下圖中的自我測試授課：XXX43將會出現(xiàn) 其中MEAS TEST 就是系統(tǒng)板，自檢板，DC板，AC板 的檢測 RELAY TEST 是多

18、塊開關板的檢測，填入開關板的數(shù)量，就會顯示測試結果 當然，機臺，卡槽也有可能影響測試授課：XXX44 2常用快捷捷鍵常用快捷捷鍵 進入元件編輯界面 CTRL+E 進入短路編輯界面 CTRL+P 進入不測點編輯界面 CTRL+S 進入IC編輯界面 CTRL+I 進入開/短路路學習 CTRL+L 在元件編輯中常用的快捷鍵 尋找針點 ALT+P 顯示并聯(lián)元件 ALT+J 顯示串聯(lián)元件 ALT+H 學習電容補償值 ALT+Y 單項測試 F9 整頁測試 ALT+F9 尋找隔離點 F10 取消隔離點 F4授課：XXX45AB點對調 F5選區(qū) ALT+L取消選區(qū) ALT+U移動選區(qū) ALT+M自動校正 AL

19、T+D排序 ALT+S區(qū)域編輯 CTRL+F取消不測 F2在IC編輯里的快捷鍵地，電源轉換 F4在元件編輯，IC編輯，短路編輯里都適用的快捷鍵新增一行 ALT+F8刪除一行 ALT+F7保存設置 F3授課：XXX46狀態(tài)設置里的功能講解授課：XXX47八八. 文件放置指引文件放置指引 授課：XXX48系統(tǒng)分為四個分區(qū)： C盤為系統(tǒng)軟件 D盤為測試軟件 E盤為軟件備份 F盤為系統(tǒng)備份授課：XXX49測試文件路徑為： D(測試軟件)：35-50-model name*.dat授課：XXX50九九.覆蓋率的定義覆蓋率的定義授課：XXX51 覆蓋率是指ICT機器針對某種產品(MODEL)的測試能力的總結,它制定的依據(jù)是產品的測試程序,BOM及相關電路原理圖(邦線圖).授課：XXX52謝謝大家!53Thank you!